Možnosti zobrazení a analýzy v rastrovacím elektronovém mikroskopu s vysokým rozlišením.

Kód výsledku v IS VaVaI

RIV/68081731:_____/17:00481759 - isvavai.cz

Výsledek na webu

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

čeština

Název v původním jazyce

Možnosti zobrazení a analýzy v rastrovacím elektronovém mikroskopu s vysokým rozlišením.

Popis výsledku v původním jazyce

Laboratoře Ústavu přístrojové techniky Akademie věd České republiky (ÚPT) v Brně jsou vybaveny špičkovými rastrovacími elektronovými mikroskopy, které umožnují studovat širokou škálu vzorků z oblasti materiálových i biologických věd. Jedním z nich je mikroskop Magellan 400L, který nabízí rozlišení pod 1nm v širokém rozmezí dopadových energii od stovek až po desítky tisíc elektronvoltů a množství analytických technik. Slouží nejen vědcům z ÚPT k základnímu i aplikovanému výzkumu, ale také kolegům z ostatních ústavů, vysokých škol a průmyslu.

Název v anglickém jazyce

Imaging and analysis with high resolution scanning electron microscope.

Popis výsledku anglicky

The Laboratories of Institute of Scientific Instruments of the Academy of Sciences of the Czech Republic (ISI) are equipped with cutting-edge scanning electron microscopes that allow studying a wide range of materials science and biological samples. One of these is the Magellan 400L which offers a resolution of less than 1 nm and a wide range of incident electron energies from hundreds of electron Volts to tens of thousands, as well as a number of complementary analytical techniques. The microscope serves for basic and applied research not only to scientists from the ISI, but also to colleagues from other institutes, universities and industry.

Druh

J_ost - Ostatní články v recenzovaných periodicích

CEP obor

—

OECD FORD obor

10303 - Particles and field physics

Projekt

LO1212: ALISI - Centrum pokročilých diagnostických metod a technologií

Návaznosti

I - Institucionalni podpora na dlouhodoby koncepcni rozvoj vyzkumne organizace

Rok uplatnění

2017

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název periodika

Jemná mechanika a optika

ISSN

0447-6441

e-ISSN

—

Svazek periodika

62

Číslo periodika v rámci svazku

10

Stát vydavatele periodika

CZ - Česká republika

Počet stran výsledku

3

Strana od-do

245-247

Kód UT WoS článku

—

EID výsledku v databázi Scopus

—