A new cryo high-vacuum transfer system for STEM and TEM
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68081731%3A_____%2F12%3A00387270" target="_blank" >RIV/68081731:_____/12:00387270 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
—
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
A new cryo high-vacuum transfer system for STEM and TEM
Popis výsledku v původním jazyce
Every microscopist pursues the aim of examining their specimen in the native state. In the case of hydrated samples like filaments, cells, or labile systems like micelles, vesicles, lamellae and nano capsules, the embedding in amorphous ice is the meansof choice, Consequently, great efforts are being put into the optimization of cryo-preparation methods in order to utilize the full technical possibilities of techniques like cryo-electron tomography (CET) or quantitative scanning electron microscopy (q-STEM). Especially in the case of quantitative measurements, like the determination of mass or mass-thickness profiles, particular requirements are imposed on the purity of the specimen, However, prerequisites for high resolution investigations, e.g. cryo-electron microscopy (cryo-EM) of vitreous sections, are the avoidance of ice crystal damage by devitrification and the prevention of contamination of the frozen hydrated specimen during the entire handling. Therefore, the temperature of
Název v anglickém jazyce
A new cryo high-vacuum transfer system for STEM and TEM
Popis výsledku anglicky
Every microscopist pursues the aim of examining their specimen in the native state. In the case of hydrated samples like filaments, cells, or labile systems like micelles, vesicles, lamellae and nano capsules, the embedding in amorphous ice is the meansof choice, Consequently, great efforts are being put into the optimization of cryo-preparation methods in order to utilize the full technical possibilities of techniques like cryo-electron tomography (CET) or quantitative scanning electron microscopy (q-STEM). Especially in the case of quantitative measurements, like the determination of mass or mass-thickness profiles, particular requirements are imposed on the purity of the specimen, However, prerequisites for high resolution investigations, e.g. cryo-electron microscopy (cryo-EM) of vitreous sections, are the avoidance of ice crystal damage by devitrification and the prevention of contamination of the frozen hydrated specimen during the entire handling. Therefore, the temperature of
Klasifikace
Druh
D - Stať ve sborníku
CEP obor
JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
OECD FORD obor
—
Návaznosti výsledku
Projekt
—
Návaznosti
I - Institucionalni podpora na dlouhodoby koncepcni rozvoj vyzkumne organizace
Ostatní
Rok uplatnění
2012
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Název statě ve sborníku
EMC 2012. Proceedings of the 15th European Microscopy Congress
ISBN
978-0-9502463-7-6
ISSN
—
e-ISSN
—
Počet stran výsledku
2
Strana od-do
445-446
Název nakladatele
The Royal Microscopical Society
Místo vydání
Manchester
Místo konání akce
Manchester
Datum konání akce
16. 9. 2012
Typ akce podle státní příslušnosti
WRD - Celosvětová akce
Kód UT WoS článku
—