Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Multidimensionální interferometrický odměřovací systém pro AFM mikroskopii - národní etalon pro nanometrologii

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68081731%3A_____%2F13%3A00421263" target="_blank" >RIV/68081731:_____/13:00421263 - isvavai.cz</a>

  • Výsledek na webu

  • DOI - Digital Object Identifier

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    čeština

  • Název v původním jazyce

    Multidimensionální interferometrický odměřovací systém pro AFM mikroskopii - národní etalon pro nanometrologii

  • Popis výsledku v původním jazyce

    Příspěvek prezentuje výsledky výzkumu na interferometrickém odměřovacím 6-osém systému pro mikroskopii s lokální sondou. Zařízení bylo vyvíjeno ve spolupráci s Českým metrologickým institutem v Brně a je v sestavě s AFM mikroskopem (mikroskop atomárníchsil) určeno k provozu jako národní nanometrologický etalon. Systém sestává z komerčního nanopolohovacího stolku řízeného piezoelektrickými aktuátory s možností polohování, metrologického rámu a laserem napájené interferometrické sestavy pro odměřování polohy ve všech šesti osách volnosti.

  • Název v anglickém jazyce

    Multidimensional interferometric measuremenr system for AFM microscopy - national standard for nanometrology

  • Popis výsledku anglicky

    We present the design and performance characteristics of 6-axis interferometric measurement system for local probe microscopy. Described measurement tool was developed in colaboration with the Czech Metrological Institute in Brno and it is intended to solve as a national nanometrological standard. The system in based on a commercial nanopositioning sample table controlled by piezoelectric transducers, a metrological frame and a laser interferometric setup for dimensional measurements in six degrees of freedom.

Klasifikace

  • Druh

    D - Stať ve sborníku

  • CEP obor

    BH - Optika, masery a lasery

  • OECD FORD obor

Návaznosti výsledku

  • Projekt

    Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.

  • Návaznosti

    I - Institucionalni podpora na dlouhodoby koncepcni rozvoj vyzkumne organizace

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2013

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Název statě ve sborníku

    Sborník příspěvků multioborové konference LASER53

  • ISBN

    978-80-87441-10-7

  • ISSN

  • e-ISSN

  • Počet stran výsledku

    2

  • Strana od-do

    34-35

  • Název nakladatele

    Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i

  • Místo vydání

    Brno

  • Místo konání akce

    Třešť

  • Datum konání akce

    30. 10. 2013

  • Typ akce podle státní příslušnosti

    CST - Celostátní akce

  • Kód UT WoS článku