Nanoposuvné stolky s velkým rozsahem polohování pro AFM mikroskopii
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68081731%3A_____%2F13%3A00421281" target="_blank" >RIV/68081731:_____/13:00421281 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
—
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
čeština
Název v původním jazyce
Nanoposuvné stolky s velkým rozsahem polohování pro AFM mikroskopii
Popis výsledku v původním jazyce
Nanopolohovací stolky pro mikroskopii atomárních sil (AFM) musí splňovat několik důležitých úkolů během procesu skenování. Především musejí zajistit polohování ve dvou souřadných osách (X a Y) a zároveň nesou testovaný vzorek, který je pak postupně posouván v těchto dvou osách přes místo, kde je umístěna detekční sonda. V případě AFM mikroskopie jde o specializovaný hrot, kterým je provedena inspekce celého povrchu vzorku v ose Z, za současného synchronizovaného pohybu v osách X a Y. Délkové rozlišení vose Z sahá díky principu AFM mikroskopie až do subnanometrové oblasti. Proto je vyžadováno rozlišení polohy vzorku v ose X a Y také obvykle nejméně v řádu nanometrů. Tento kritický parametr je však navíc komplikován požadavkem, aby rozsah polohování v obou osách X a Y byl srovnatelný s velikostí vzorku. Běžné komerční nanoposuvné stolky dosahují maximálního rozsahu vychýlení v řádu několika set mikrometrů, zatímco vhodný rozsah se pohybuje v řádu jednotek milimetrů. V případě uvedených
Název v anglickém jazyce
Nano-stage with a large range of positionig for AFM microscopy
Popis výsledku anglicky
We present a new concept of long-range positioning stage for scanning probe microscopy. We developed the stuck planchet moving stage where X-Y axes of positioning are controlled by two incremental piezoelectric actuators. We demonstrated moving range upto 7 mm of positioning in both axes. The absolute position of the stage is measured by two optical linear encoders. The resolution of the positioning is about 10 nm.
Klasifikace
Druh
D - Stať ve sborníku
CEP obor
BH - Optika, masery a lasery
OECD FORD obor
—
Návaznosti výsledku
Projekt
Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.
Návaznosti
I - Institucionalni podpora na dlouhodoby koncepcni rozvoj vyzkumne organizace
Ostatní
Rok uplatnění
2013
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Název statě ve sborníku
Sborník příspěvků multioborové konference LASER53
ISBN
978-80-87441-10-7
ISSN
—
e-ISSN
—
Počet stran výsledku
2
Strana od-do
17-18
Název nakladatele
Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i
Místo vydání
Brno
Místo konání akce
Třešť
Datum konání akce
30. 10. 2013
Typ akce podle státní příslušnosti
CST - Celostátní akce
Kód UT WoS článku
—