Using environmental scanning electron microscopy (ESEM) as a non-invasive method to studying fixed parasites

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68081731%3A_____%2F14%3A00434114" target="_blank" >RIV/68081731:_____/14:00434114 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

Using environmental scanning electron microscopy (ESEM) as a non-invasive method to studying fixed parasites

Popis výsledku v původním jazyce

Scanning electron microscopy (SEM) is popular and for taxonomy of parasites very important and not substituted method in many times. However sometimes taxonomists have only one specimen and cannot use classical SEM, because their sample (poor conductor)have to be fixed, dehydrated and coated before it can be observed. This method condemns samples for destroying and do not allow other using of it, e.g. for molecular study or depositing as type material in museum. Moreover, the specimen preparation is often long and slow. Environmental scanning electron microscopy (ESEM) brings two main advantages: elimination of speed of sample preparation and non-invasivity.

Název v anglickém jazyce

Using environmental scanning electron microscopy (ESEM) as a non-invasive method to studying fixed parasites

Popis výsledku anglicky

Scanning electron microscopy (SEM) is popular and for taxonomy of parasites very important and not substituted method in many times. However sometimes taxonomists have only one specimen and cannot use classical SEM, because their sample (poor conductor)have to be fixed, dehydrated and coated before it can be observed. This method condemns samples for destroying and do not allow other using of it, e.g. for molecular study or depositing as type material in museum. Moreover, the specimen preparation is often long and slow. Environmental scanning electron microscopy (ESEM) brings two main advantages: elimination of speed of sample preparation and non-invasivity.

Druh

D - Stať ve sborníku

CEP obor

JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika

OECD FORD obor

—

Projekt

<a href="/cs/project/GA14-22777S" target="_blank" >GA14-22777S: Studium interakcí elektronů s plynem v podmínkách tlakového spádu nízkoenergiového environmentálního rastrovacího elektronového mikroskopu.</a><br>

Návaznosti

I - Institucionalni podpora na dlouhodoby koncepcni rozvoj vyzkumne organizace

Rok uplatnění

2014

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název statě ve sborníku

18th International Microscopy Congres. Proceedings

ISBN

978-80-260-6720-7

ISSN

—

e-ISSN

—

Počet stran výsledku

2

Strana od-do

—

Název nakladatele

Czechoslovak Microscopy Society

Místo vydání

Praha

Místo konání akce

Praha

Datum konání akce

7. 9. 2014

Typ akce podle státní příslušnosti

WRD - Celosvětová akce

Kód UT WoS článku

—