Scanning transmission microscopy at very low energies

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68081731%3A_____%2F16%3A00460206" target="_blank" >RIV/68081731:_____/16:00460206 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

<a href="http://www.trends.isibrno.cz/" target="_blank" >http://www.trends.isibrno.cz/</a>

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

Scanning transmission microscopy at very low energies

Popis výsledku v původním jazyce

To operate down to units of eV with a small primary spot size, a cathode lens with a biased specimen was introduced into the SEM. The reflected signal, accelerated secondary and backscattered electrons, is collected by detectors situated above the specimen.nWhen we insert a detector below the specimen, the transmitted electron signal can also be used for imaging down to zero energy. Fig. 1 also shows an example of the simulated signal trajectories of electrons that impact on the detector of reflected electrons, based on an Yttrium Aluminium Garnet (YAG) crystal, and trajectories of electrons transmitted through the specimen and incident on a semiconductor detector based on the PIN structure.

Název v anglickém jazyce

Scanning transmission microscopy at very low energies

Popis výsledku anglicky

To operate down to units of eV with a small primary spot size, a cathode lens with a biased specimen was introduced into the SEM. The reflected signal, accelerated secondary and backscattered electrons, is collected by detectors situated above the specimen.nWhen we insert a detector below the specimen, the transmitted electron signal can also be used for imaging down to zero energy. Fig. 1 also shows an example of the simulated signal trajectories of electrons that impact on the detector of reflected electrons, based on an Yttrium Aluminium Garnet (YAG) crystal, and trajectories of electrons transmitted through the specimen and incident on a semiconductor detector based on the PIN structure.

Druh

D - Stať ve sborníku

CEP obor

JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika

OECD FORD obor

—

Projekt

Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.

Návaznosti

I - Institucionalni podpora na dlouhodoby koncepcni rozvoj vyzkumne organizace

Rok uplatnění

2016

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název statě ve sborníku

Proceedings of the 15th International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation

ISBN

978-80-87441-17-6

ISSN

—

e-ISSN

—

Počet stran výsledku

2

Strana od-do

40-41

Název nakladatele

Institute of Scientific Instruments CAS

Místo vydání

Brno

Místo konání akce

Skalský dvůr

Datum konání akce

29. 5. 2016

Typ akce podle státní příslušnosti

WRD - Celosvětová akce

Kód UT WoS článku

000391254000018