Applications of the Scanning Low Energy Electron Microscope

Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68081731%3A_____%2F12%3A00379913" target="_blank" >RIV/68081731:_____/12:00379913 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
<a href="http://dx.doi.org/10.1017/S1431927612006836" target="_blank" >http://dx.doi.org/10.1017/S1431927612006836</a>
DOI - Digital Object Identifier
<a href="http://dx.doi.org/10.1017/S1431927612006836" target="_blank" >10.1017/S1431927612006836</a>

Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Applications of the Scanning Low Energy Electron Microscope
Popis výsledku v původním jazyce
Recent applications of the Scanning Low Energy Electron Microscope (SLEEM) are presented. The device employs the electron signal reflected from the specimen as well as that transmitted through the specimen for observation throughout the full energy scaledown to units of electronvolts.
Název v anglickém jazyce
Applications of the Scanning Low Energy Electron Microscope
Popis výsledku anglicky
Recent applications of the Scanning Low Energy Electron Microscope (SLEEM) are presented. The device employs the electron signal reflected from the specimen as well as that transmitted through the specimen for observation throughout the full energy scaledown to units of electronvolts.

Druh
J<sub>x</sub> - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)
CEP obor
JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
OECD FORD obor
—

Projekt
Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.
Návaznosti
I - Institucionalni podpora na dlouhodoby koncepcni rozvoj vyzkumne organizace

Rok uplatnění
2012
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Podobné výsledky(10)