Electrostatic mini SLEEM for surface studies.

Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68081731%3A_____%2F02%3A12020040" target="_blank" >RIV/68081731:_____/02:12020040 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
—
DOI - Digital Object Identifier
—

Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Electrostatic mini SLEEM for surface studies.
Popis výsledku v původním jazyce
Exploitation of the low-energy electrons is advantageous for several reasons. One of them is their smaller penetration depth into the material, which reveals itself as favourable for the surface analysis. Using the low-energy electrons even causes partial, and in some cases total elimination ofcharging effects at non-conductive or slightly conductive specimens. Slowprimary electrons (PE) cause only reduced radiation damage of specimens.
Název v anglickém jazyce
Electrostatic mini SLEEM for surface studies.
Popis výsledku anglicky
Exploitation of the low-energy electrons is advantageous for several reasons. One of them is their smaller penetration depth into the material, which reveals itself as favourable for the surface analysis. Using the low-energy electrons even causes partial, and in some cases total elimination ofcharging effects at non-conductive or slightly conductive specimens. Slowprimary electrons (PE) cause only reduced radiation damage of specimens.

Rok uplatnění
2002
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název statě ve sborníku
Proceedings of the 2nd annual meeting of the Czechoslovak microscopy society.
ISBN
80-238-8749-1
ISSN
—
e-ISSN
—
Počet stran výsledku
2
Strana od-do
95-96
Název nakladatele
CSMS
Místo vydání
Brno
Místo konání akce
Vranovská Ves [CZ]
Datum konání akce
8. 2. 2002
Typ akce podle státní příslušnosti
EUR - Evropská akce
Kód UT WoS článku
—

Podobné výsledky(10)