Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Fully electrostatic low energy scanning electron column.

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68081731%3A_____%2F02%3A12020054" target="_blank" >RIV/68081731:_____/02:12020054 - isvavai.cz</a>

  • Výsledek na webu

  • DOI - Digital Object Identifier

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    Fully electrostatic low energy scanning electron column.

  • Popis výsledku v původním jazyce

    The exploitation of low-energy electrons for examination of the material surfaces has several advantages. One of them is a small depth penetration of the primary electrons (PE) to the observed material. At low energies the charging effects on non-conductive or slightly conductive specimens are suppressed and also radiation damage of the observed specimen is decreased. Since the secondary electron (SE) yield is high, the signal to noise ratio (SNR) is about one order of magnitude larger than those in microscopes operated at 20kV.

  • Název v anglickém jazyce

    Fully electrostatic low energy scanning electron column.

  • Popis výsledku anglicky

    The exploitation of low-energy electrons for examination of the material surfaces has several advantages. One of them is a small depth penetration of the primary electrons (PE) to the observed material. At low energies the charging effects on non-conductive or slightly conductive specimens are suppressed and also radiation damage of the observed specimen is decreased. Since the secondary electron (SE) yield is high, the signal to noise ratio (SNR) is about one order of magnitude larger than those in microscopes operated at 20kV.

Klasifikace

  • Druh

    D - Stať ve sborníku

  • CEP obor

    JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika

  • OECD FORD obor

Návaznosti výsledku

  • Projekt

  • Návaznosti

    Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2002

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Název statě ve sborníku

    Proceedings of the 8.sup.th./sup. international seminar, held in Skalský dvůr.

  • ISBN

    80-238-8986-9

  • ISSN

  • e-ISSN

  • Počet stran výsledku

    2

  • Strana od-do

    33-34

  • Název nakladatele

    Ústav přístrojové techniky Akademie věd České republiky

  • Místo vydání

    Brno

  • Místo konání akce

    Skalský dvůr [CZ]

  • Datum konání akce

    8. 7. 2002

  • Typ akce podle státní příslušnosti

    WRD - Celosvětová akce

  • Kód UT WoS článku