GAGG:ce single crystalline films: New perspective scintillators for electron detection in SEM
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68081731%3A_____%2F16%3A00465030" target="_blank" >RIV/68081731:_____/16:00465030 - isvavai.cz</a>
Nalezeny alternativní kódy
RIV/00216208:11320/16:10329980 RIV/00216224:14310/16:00094199
Výsledek na webu
<a href="http://dx.doi.org/10.1016/j.ultramic.2016.01.003" target="_blank" >http://dx.doi.org/10.1016/j.ultramic.2016.01.003</a>
DOI - Digital Object Identifier
<a href="http://dx.doi.org/10.1016/j.ultramic.2016.01.003" target="_blank" >10.1016/j.ultramic.2016.01.003</a>
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
GAGG:ce single crystalline films: New perspective scintillators for electron detection in SEM
Popis výsledku v původním jazyce
Single crystal scintillators are frequently used for electron detection in scanning electron microscopy (SEM). We report gadolinium aluminum gallium garnet (GAGG:Ce) single crystalline films as a new perspective scintillators for the SEM. For the first time, the epitaxial garnet films were used in a practical application: the GAGG:Ce scintillator was incorporated into a SEM scintillation electron detector and it showed improved image quality. In order to prove the GAGG:Ce quality accurately, the scintillation properties were examined using electron beam excitation and compared with frequently used scintillators in the SEM. The results demonstrate excellent emission efficiency of the GAGG:Ce single crystalline films together with their very fast scintillation decay useful for demanding SEM applications.
Název v anglickém jazyce
GAGG:ce single crystalline films: New perspective scintillators for electron detection in SEM
Popis výsledku anglicky
Single crystal scintillators are frequently used for electron detection in scanning electron microscopy (SEM). We report gadolinium aluminum gallium garnet (GAGG:Ce) single crystalline films as a new perspective scintillators for the SEM. For the first time, the epitaxial garnet films were used in a practical application: the GAGG:Ce scintillator was incorporated into a SEM scintillation electron detector and it showed improved image quality. In order to prove the GAGG:Ce quality accurately, the scintillation properties were examined using electron beam excitation and compared with frequently used scintillators in the SEM. The results demonstrate excellent emission efficiency of the GAGG:Ce single crystalline films together with their very fast scintillation decay useful for demanding SEM applications.
Klasifikace
Druh
J<sub>x</sub> - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)
CEP obor
JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
OECD FORD obor
—
Návaznosti výsledku
Projekt
Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.
Návaznosti
I - Institucionalni podpora na dlouhodoby koncepcni rozvoj vyzkumne organizace
Ostatní
Rok uplatnění
2016
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Název periodika
Ultramicroscopy
ISSN
0304-3991
e-ISSN
—
Svazek periodika
163
Číslo periodika v rámci svazku
APR
Stát vydavatele periodika
NL - Nizozemsko
Počet stran výsledku
5
Strana od-do
1-5
Kód UT WoS článku
000373526100001
EID výsledku v databázi Scopus
2-s2.0-84956991203