Field emission from the surface of highly ordered pyrolytic graphite

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68081731%3A_____%2F17%3A00464577" target="_blank" >RIV/68081731:_____/17:00464577 - isvavai.cz</a>

Nalezeny alternativní kódy

RIV/00216305:26220/16:PU119027

Výsledek na webu

<a href="http://dx.doi.org/10.1016/j.apsusc.2016.05.002" target="_blank" >http://dx.doi.org/10.1016/j.apsusc.2016.05.002</a>

DOI - Digital Object Identifier

<a href="http://dx.doi.org/10.1016/j.apsusc.2016.05.002" target="_blank" >10.1016/j.apsusc.2016.05.002</a>

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

Field emission from the surface of highly ordered pyrolytic graphite

Popis výsledku v původním jazyce

This paper deals with the electrical characterization of highly ordered pyrolytic graphite (HOPG) surface based on field emission of electrons. The effect of field emission occurs only at disrupted surface, i.e. surface containing ripped and warped shreds of the uppermost layers of graphite. These deformations provide the necessary field gradients which are required for measuring tunneling current caused by field electron emission. Results of the field emission measurements are correlated with other surface characterization methods such as scanning near-field optical microscopy (SNOM) or atomic force microscopy

Název v anglickém jazyce

Field emission from the surface of highly ordered pyrolytic graphite

Popis výsledku anglicky

This paper deals with the electrical characterization of highly ordered pyrolytic graphite (HOPG) surface based on field emission of electrons. The effect of field emission occurs only at disrupted surface, i.e. surface containing ripped and warped shreds of the uppermost layers of graphite. These deformations provide the necessary field gradients which are required for measuring tunneling current caused by field electron emission. Results of the field emission measurements are correlated with other surface characterization methods such as scanning near-field optical microscopy (SNOM) or atomic force microscopy

Druh

J_imp - Článek v periodiku v databázi Web of Science

CEP obor

—

OECD FORD obor

21002 - Nano-processes (applications on nano-scale); (biomaterials to be 2.9)

Projekt

Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.

Návaznosti

I - Institucionalni podpora na dlouhodoby koncepcni rozvoj vyzkumne organizace

Rok uplatnění

2017

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název periodika

Applied Surface Science

ISSN

0169-4332

e-ISSN

—

Svazek periodika

395

Číslo periodika v rámci svazku

FEB 15

Stát vydavatele periodika

NL - Nizozemsko

Počet stran výsledku

5

Strana od-do

157-161

Kód UT WoS článku

000390428300027

EID výsledku v databázi Scopus

2-s2.0-84965028370