STEM modes in SEM
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68081731%3A_____%2F18%3A00494365" target="_blank" >RIV/68081731:_____/18:00494365 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
—
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
STEM modes in SEM
Popis výsledku v původním jazyce
The segmented semiconductor STEM detector in the Magellan 400 FEG SEM microscopen(https://www.fei.com/) is used to detect transmitted electrons (TEs) and allows observingnsamples in four imaging modes. Two modes of objective lens, namely high resolution (HR)nand ultra-high resolution (UHR), differ by their resolution and by the presence or absence ofna magnetic field around the sample. If the beam deceleration (BD) mode is chosen, thennan electrostatic field around the sample is added and two further microscope modes HR + BDnand UHR + BD, become available. Trajectories of TEs are studied with regard to their angularnand energy distribution in each mode in this work.n
Název v anglickém jazyce
STEM modes in SEM
Popis výsledku anglicky
The segmented semiconductor STEM detector in the Magellan 400 FEG SEM microscopen(https://www.fei.com/) is used to detect transmitted electrons (TEs) and allows observingnsamples in four imaging modes. Two modes of objective lens, namely high resolution (HR)nand ultra-high resolution (UHR), differ by their resolution and by the presence or absence ofna magnetic field around the sample. If the beam deceleration (BD) mode is chosen, thennan electrostatic field around the sample is added and two further microscope modes HR + BDnand UHR + BD, become available. Trajectories of TEs are studied with regard to their angularnand energy distribution in each mode in this work.n
Klasifikace
Druh
D - Stať ve sborníku
CEP obor
—
OECD FORD obor
20201 - Electrical and electronic engineering
Návaznosti výsledku
Projekt
Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.
Návaznosti
I - Institucionalni podpora na dlouhodoby koncepcni rozvoj vyzkumne organizace
Ostatní
Rok uplatnění
2018
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Název statě ve sborníku
Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation. Proceedings of the 16th International Seminar
ISBN
978-80-87441-23-7
ISSN
—
e-ISSN
—
Počet stran výsledku
2
Strana od-do
40-41
Název nakladatele
Institute of Scientific Instruments The Czech Academy of Sciences
Místo vydání
Brno
Místo konání akce
Skalský dvůr
Datum konání akce
4. 6. 2018
Typ akce podle státní příslušnosti
WRD - Celosvětová akce
Kód UT WoS článku
000450591400014