Zařízení pro měření drsnosti optických povrchů

Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68081731%3A_____%2F20%3A00537041" target="_blank" >RIV/68081731:_____/20:00537041 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
—
DOI - Digital Object Identifier
—

Jazyk výsledku
čeština
Název v původním jazyce
Zařízení pro měření drsnosti optických povrchů
Popis výsledku v původním jazyce
Experimentální sestava pro pilotní ověření parametrů nové metody pro měření drsnosti povrchů metodou detekce zaostření svazku. Aparát zahrnuje zobrazovací jednotku těsně provázanou s technikami digitálního zpracování signálů a velmi přesným mechanismem pro dvouosé X-Z polohování. Modulární architektura umožňuje využít statické varianty inspekce povrchu nebo dynamickou variantu měření. Systém posuvu sensoru drsnosti umožňuje rozsah skenování 200 mikrometrů a hloubku skenu +- 10 mikrometrů.
Název v anglickém jazyce
Roughness measurement device for optical surfaces
Popis výsledku anglicky
Experimental assembly for the pilot characterization of the novel surface topography technique, based on different configuration of the imaging arrangement. The apparatus integrates the optical imaging unit performance in conjunction with the digital processing techniques and precise X-Z translation mechanism. The modular architecture allows for several variants of the surface topography measurement configuration with interchangeable static arrangements or a dynamic arrangement of the measurement. The positioning system of the roughnes measuring sensor enables the X-Z cross-section scanning in 200 micrometer range with +- 10 micrometer range depth.

Projekt
<a href="/cs/project/TN01000008" target="_blank" >TN01000008: Centrum elektronové a fotonové optiky</a><br>
Návaznosti
I - Institucionalni podpora na dlouhodoby koncepcni rozvoj vyzkumne organizace

Rok uplatnění
2020
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Interní identifikační kód produktu
APL-2020-14
Číselná identifikace
APL-2020-14
Technické parametry
Rozsah X-Z skenování dx=200 mikronů s krokem 10 nm, dz=-+10mikronů s krokem 1nm, statické konfigurace senzoru pro měření drsnosti (axicon, wedge, 4-point) a dynamická konfigurace (prostorový modulátor světla). Nejistota měření < 1 mikrometr.
Ekonomické parametry
Funkční vzorek realizovaný při řešení grantu, s předpokladem smluvního využití s vědeckým a ekonomickým přínosem i po jeho ukončení. Kontakt: prof. Ing. Josef Lazar, Dr., joe@isibrno.cz
Kategorie aplik. výsledku dle nákladů
—
IČO vlastníka výsledku
68081731
Název vlastníka
Ústav přístrojové techniky AV ČR, v. v. i.
Stát vlastníka
CZ - Česká republika
Druh možnosti využití
P - Využití výsledku jiným subjektem je v některých případech možné bez nabytí licence
Požadavek na licenční poplatek
Z - Poskytovatel licence na výsledek nepožaduje v některých případech licenční poplatek
Adresa www stránky s výsledkem
—

Podobné výsledky(10)