Field Emission Microscopy as a Tool for Characterizing Scanning Probe Microscopy

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68081731%3A_____%2F24%3A00618973" target="_blank" >RIV/68081731:_____/24:00618973 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

Field Emission Microscopy as a Tool for Characterizing Scanning Probe Microscopy

Popis výsledku v původním jazyce

Knápek, A., Burda, D., Allaham, M. M., Košelová, Z., Dupák, L., Sobola, D. Field Emission Microscopy as a Tool for Characterizing Scanning Probe Microscopy. In: Miniworkshop on Surface Science and Field Electron Emission. Niterói: Universidade Federal Fluminens, 2024, s. 5. This talk presented the design and construction of a customized field emission microscope for the analysis of scanning probe microscopy (SPM) probes, namely AFM (atomic force microscopy) and STM (scanning tunneling microscopy).

Název v anglickém jazyce

Field Emission Microscopy as a Tool for Characterizing Scanning Probe Microscopy

Popis výsledku anglicky

Knápek, A., Burda, D., Allaham, M. M., Košelová, Z., Dupák, L., Sobola, D. Field Emission Microscopy as a Tool for Characterizing Scanning Probe Microscopy. In: Miniworkshop on Surface Science and Field Electron Emission. Niterói: Universidade Federal Fluminens, 2024, s. 5. This talk presented the design and construction of a customized field emission microscope for the analysis of scanning probe microscopy (SPM) probes, namely AFM (atomic force microscopy) and STM (scanning tunneling microscopy).

Druh

O - Ostatní výsledky

CEP obor

—

OECD FORD obor

10302 - Condensed matter physics (including formerly solid state physics, supercond.)

Projekt

<a href="/cs/project/FW03010504" target="_blank" >FW03010504: Vývoj in-situ technik pro charakterizaci materiálů a nanostruktur</a><br>

Návaznosti

P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)

Rok uplatnění

2024

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů