Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

The Cutting of Ultrathin Sections With the Thickness Less Than 20 nm From Biological Specimens Embedded in Resin Blocks

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68378050%3A_____%2F16%3A00463327" target="_blank" >RIV/68378050:_____/16:00463327 - isvavai.cz</a>

  • Nalezeny alternativní kódy

    RIV/60077344:_____/16:00463327 RIV/68081731:_____/16:00463327 RIV/60076658:12310/16:43890647 RIV/00216208:11310/16:10371534

  • Výsledek na webu

    <a href="http://dx.doi.org/10.1002/jemt.22659" target="_blank" >http://dx.doi.org/10.1002/jemt.22659</a>

  • DOI - Digital Object Identifier

    <a href="http://dx.doi.org/10.1002/jemt.22659" target="_blank" >10.1002/jemt.22659</a>

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    The Cutting of Ultrathin Sections With the Thickness Less Than 20 nm From Biological Specimens Embedded in Resin Blocks

  • Popis výsledku v původním jazyce

    Low voltage electron microscopes working in transmission mode, like LVEM5 (Delong Instruments, Czech Republic) working at accelerating voltage 5 kV or scanning electron microscope working in transmission mode with accelerating voltage below 1 kV, require ultrathin sections with the thickness below 20 nm. Decreasing of the primary electron energy leads to enhancement of image contrast, which is especially useful in the case of biological samples composed of elements with low atomic numbers. As a result treatments with heavy metals, like post-fixation with osmium tetroxide or ultrathin section staining, can by omitted. The disadvantage is reduced penetration ability of incident electrons influencing the usable thickness of the specimen resulting in the need of ultrathin sections of under 20 nm thickness. In this study we want to answer basic questions concerning the cutting of extremely ultrathin sections: Is it possible routinely and reproducibly to cut extremely thin sections of biological specimens embedded in commonly used resins with contemporary ultramicrotome techniques and under what conditions?

  • Název v anglickém jazyce

    The Cutting of Ultrathin Sections With the Thickness Less Than 20 nm From Biological Specimens Embedded in Resin Blocks

  • Popis výsledku anglicky

    Low voltage electron microscopes working in transmission mode, like LVEM5 (Delong Instruments, Czech Republic) working at accelerating voltage 5 kV or scanning electron microscope working in transmission mode with accelerating voltage below 1 kV, require ultrathin sections with the thickness below 20 nm. Decreasing of the primary electron energy leads to enhancement of image contrast, which is especially useful in the case of biological samples composed of elements with low atomic numbers. As a result treatments with heavy metals, like post-fixation with osmium tetroxide or ultrathin section staining, can by omitted. The disadvantage is reduced penetration ability of incident electrons influencing the usable thickness of the specimen resulting in the need of ultrathin sections of under 20 nm thickness. In this study we want to answer basic questions concerning the cutting of extremely ultrathin sections: Is it possible routinely and reproducibly to cut extremely thin sections of biological specimens embedded in commonly used resins with contemporary ultramicrotome techniques and under what conditions?

Klasifikace

  • Druh

    J<sub>x</sub> - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)

  • CEP obor

    JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika

  • OECD FORD obor

Návaznosti výsledku

  • Projekt

    <a href="/cs/project/TE01020118" target="_blank" >TE01020118: Elektronová mikroskopie</a><br>

  • Návaznosti

    I - Institucionalni podpora na dlouhodoby koncepcni rozvoj vyzkumne organizace

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2016

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Název periodika

    Microscopy Research Technique

  • ISSN

    1059-910X

  • e-ISSN

  • Svazek periodika

    79

  • Číslo periodika v rámci svazku

    6

  • Stát vydavatele periodika

    US - Spojené státy americké

  • Počet stran výsledku

    6

  • Strana od-do

    512-517

  • Kód UT WoS článku

    000377025900007

  • EID výsledku v databázi Scopus

    2-s2.0-84962815318