Low energy and low dose electron irradiation of potassium-lime-silicate glass investigated by XPS. I. Surface composition.

Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68378271%3A_____%2F03%3A02030542" target="_blank" >RIV/68378271:_____/03:02030542 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
—
DOI - Digital Object Identifier
—

Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Low energy and low dose electron irradiation of potassium-lime-silicate glass investigated by XPS. I. Surface composition.
Popis výsledku v původním jazyce
X-ray induced photoelectron spectroscopy has been used to study the influence of low-energy electron beam on the pristine potassium-lime-silicate glass surface prepared by fracturing in situ under ultrahigh vacuum.
Název v anglickém jazyce
Low energy and low dose electron irradiation of potassium-lime-silicate glass investigated by XPS. I. Surface composition.
Popis výsledku anglicky
X-ray induced photoelectron spectroscopy has been used to study the influence of low-energy electron beam on the pristine potassium-lime-silicate glass surface prepared by fracturing in situ under ultrahigh vacuum.

Druh
J<sub>x</sub> - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)
CEP obor
BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
OECD FORD obor
—

Projekt
<a href="/cs/project/GA104%2F99%2F1407" target="_blank" >GA104/99/1407: Indukovaná migrace alkalických iontů v silikátových sklech, ozářených rychlými elektrony</a><br>
Návaznosti
P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)<br>Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Rok uplatnění
2003
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Podobné výsledky(10)