XPS study of siloxane plasma polymer films.
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68378271%3A_____%2F03%3A02030552" target="_blank" >RIV/68378271:_____/03:02030552 - isvavai.cz</a>
Nalezeny alternativní kódy
RIV/00216305:26310/03:PU38780
Výsledek na webu
—
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
XPS study of siloxane plasma polymer films.
Popis výsledku v původním jazyce
The composition of elements in the surface region (top 6-8 nm) of the deposited films was studied by X-ray-induced photoelectron spectroscopy(XPS) on an ADES 400 VG Scientific photoelectron spectrometer using MgK .alfa. (1253.6 eV) or AlK .alfa. (1486.6eV) photon beams at the normal emiaaion angle.
Název v anglickém jazyce
XPS study of siloxane plasma polymer films.
Popis výsledku anglicky
The composition of elements in the surface region (top 6-8 nm) of the deposited films was studied by X-ray-induced photoelectron spectroscopy(XPS) on an ADES 400 VG Scientific photoelectron spectrometer using MgK .alfa. (1253.6 eV) or AlK .alfa. (1486.6eV) photon beams at the normal emiaaion angle.
Klasifikace
Druh
J<sub>x</sub> - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)
CEP obor
BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
OECD FORD obor
—
Návaznosti výsledku
Projekt
Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.
Návaznosti
P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)<br>Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)
Ostatní
Rok uplatnění
2003
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Název periodika
Surface and Coatings Technology
ISSN
0257-8972
e-ISSN
—
Svazek periodika
174-175
Číslo periodika v rámci svazku
N/A
Stát vydavatele periodika
NL - Nizozemsko
Počet stran výsledku
5
Strana od-do
1159-1163
Kód UT WoS článku
—
EID výsledku v databázi Scopus
—