Jednoduchý nástroj pro určení kvality mikrokrystalického křemíku připraveného s vysokou rychlostí růstu

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68378271%3A_____%2F08%3A00309807" target="_blank" >RIV/68378271:_____/08:00309807 - isvavai.cz</a>

Nalezeny alternativní kódy

RIV/68378271:_____/08:00341937

Výsledek na webu

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

A simple tool for quality evaluation of the microcrystalline silicon prepared at high growth rate

Popis výsledku v původním jazyce

We suggest a simple "?c-Si:H layer quality factor" based on the ration of subgap optical absorption ? (1,4 eV)/ ?(1 eV) measured by constant photocurrent method.

Název v anglickém jazyce

A simple tool for quality evaluation of the microcrystalline silicon prepared at high growth rate

Popis výsledku anglicky

We suggest a simple "?c-Si:H layer quality factor" based on the ration of subgap optical absorption ? (1,4 eV)/ ?(1 eV) measured by constant photocurrent method.

Druh

J_x - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)

CEP obor

BM - Fyzika pevných látek a magnetismus

OECD FORD obor

—

Projekt

Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.

Návaznosti

P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)<br>Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Rok uplatnění

2008

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název periodika

Thin Solid Films

ISSN

0040-6090

e-ISSN

—

Svazek periodika

516

Číslo periodika v rámci svazku

15

Stát vydavatele periodika

CH - Švýcarská konfederace

Počet stran výsledku

4

Strana od-do

—

Kód UT WoS článku

000256509100048

EID výsledku v databázi Scopus

—