Electrical characterization of locally charged oxidized nanocrystalline diamond films by Kelvin force microscopy

Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68378271%3A_____%2F08%3A00319503" target="_blank" >RIV/68378271:_____/08:00319503 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
—
DOI - Digital Object Identifier
—

Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Electrical characterization of locally charged oxidized nanocrystalline diamond films by Kelvin force microscopy
Popis výsledku v původním jazyce
Electrostatically charged micrometer-sized areas are created on a surface of oxygen-terminated nanocrystalline diamond thin film by a tip of atomic force microscope. Those areas are studied by Kelvin probe microscopy and possible charge trapping mechanisms are discussed.
Název v anglickém jazyce
Electrical characterization of locally charged oxidized nanocrystalline diamond films by Kelvin force microscopy
Popis výsledku anglicky
Electrostatically charged micrometer-sized areas are created on a surface of oxygen-terminated nanocrystalline diamond thin film by a tip of atomic force microscope. Those areas are studied by Kelvin probe microscopy and possible charge trapping mechanisms are discussed.

Druh
J<sub>x</sub> - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)
CEP obor
BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
OECD FORD obor
—

Projekt
Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.
Návaznosti
P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)<br>Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Rok uplatnění
2008
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Podobné výsledky(10)