Spektrální závislost amorfních - nanokrystalických křemíkových tenkých vrstev
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68378271%3A_____%2F08%3A00319710" target="_blank" >RIV/68378271:_____/08:00319710 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
—
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Spectral response of amorphous-nano-crystalline silicon thin films
Popis výsledku v původním jazyce
Amorphous and nanocrystalline Si was deposited by rf plasma enhanced CVD. Nanocrystals with size 2-20 nm were observed. Optical and photoelectrical properties of these thin films for solar cell applications were examined.
Název v anglickém jazyce
Spectral response of amorphous-nano-crystalline silicon thin films
Popis výsledku anglicky
Amorphous and nanocrystalline Si was deposited by rf plasma enhanced CVD. Nanocrystals with size 2-20 nm were observed. Optical and photoelectrical properties of these thin films for solar cell applications were examined.
Klasifikace
Druh
J<sub>x</sub> - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)
CEP obor
BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
OECD FORD obor
—
Návaznosti výsledku
Projekt
—
Návaznosti
R - Projekt Ramcoveho programu EK
Ostatní
Rok uplatnění
2008
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Název periodika
Journal of Non-Crystalline Solids
ISSN
0022-3093
e-ISSN
—
Svazek periodika
354
Číslo periodika v rámci svazku
19-25
Stát vydavatele periodika
NL - Nizozemsko
Počet stran výsledku
5
Strana od-do
—
Kód UT WoS článku
000256500400049
EID výsledku v databázi Scopus
—