Spectroscopic ellipsometry applied to phase transitions in solids: possibilities and limitations

Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68378271%3A_____%2F09%3A00330031" target="_blank" >RIV/68378271:_____/09:00330031 - isvavai.cz</a>
Nalezeny alternativní kódy
RIV/61989592:15310/09:00010774
Výsledek na webu
—
DOI - Digital Object Identifier
—

Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Spectroscopic ellipsometry applied to phase transitions in solids: possibilities and limitations
Popis výsledku v původním jazyce
The possibilities of in situ spectroscopic ellipsometry applied to phase transitions investigation in oxide thin films and crystals are examined in this work, along with the use of various parameters calculated from ellipsometric data (band gap energy Eg, refractive index n and surface roughness) together with the directly measured main ellipsometric angles ? and ?, for the detection of phase transitions.
Název v anglickém jazyce
Spectroscopic ellipsometry applied to phase transitions in solids: possibilities and limitations
Popis výsledku anglicky
The possibilities of in situ spectroscopic ellipsometry applied to phase transitions investigation in oxide thin films and crystals are examined in this work, along with the use of various parameters calculated from ellipsometric data (band gap energy Eg, refractive index n and surface roughness) together with the directly measured main ellipsometric angles ? and ?, for the detection of phase transitions.

Projekt
Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.
Návaznosti
P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)<br>Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Rok uplatnění
2009
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Podobné výsledky(10)