Optical emission spectroscopy of various materials irradiated by soft x-ray free-electron laser

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68378271%3A_____%2F09%3A00336007" target="_blank" >RIV/68378271:_____/09:00336007 - isvavai.cz</a>

Nalezeny alternativní kódy

RIV/68407700:21460/09:00202284

Výsledek na webu

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

Optical emission spectroscopy of various materials irradiated by soft x-ray free-electron laser

Popis výsledku v původním jazyce

The beam of Free-Electron Laser in Hamburg (FLASH) tuned at either 32.5 nm or 13.7 nm was focused by a grazing incidence elliptical mirror and an off-axis parabolic mirror coated by Si/Mo multilayer on 20-micron and 1-micron spot, respectively. The grazing incidence and normal incidence focusing of 10-fs pulses carrying an energy of 10 ?J lead at the surface of various solids (Si, Al, Ti, Ta, Si3N4, BN, a-C/Si, Ni/Si, Cr/Si, Rh/Si, Ce:YAG, poly(methyl methacrylate) - PMMA, stainless steel, etc.) to an irradiance of 1013 W/cm2 and 1016 W/cm2, resp. The optical emission of the plasmas produced under these conditions was registered. Surprisingly, only lines belonging to the neutral atoms were observed at intensities around 1013 W/cm2 and 1016 W/cm2, resp.No lines of atomic ions have been identified in UV-vis spectra emitted from the plasmas formed by the FLASH beam focused in a 20-micron spot.

Název v anglickém jazyce

Optical emission spectroscopy of various materials irradiated by soft x-ray free-electron laser

Popis výsledku anglicky

The beam of Free-Electron Laser in Hamburg (FLASH) tuned at either 32.5 nm or 13.7 nm was focused by a grazing incidence elliptical mirror and an off-axis parabolic mirror coated by Si/Mo multilayer on 20-micron and 1-micron spot, respectively. The grazing incidence and normal incidence focusing of 10-fs pulses carrying an energy of 10 ?J lead at the surface of various solids (Si, Al, Ti, Ta, Si3N4, BN, a-C/Si, Ni/Si, Cr/Si, Rh/Si, Ce:YAG, poly(methyl methacrylate) - PMMA, stainless steel, etc.) to an irradiance of 1013 W/cm2 and 1016 W/cm2, resp. The optical emission of the plasmas produced under these conditions was registered. Surprisingly, only lines belonging to the neutral atoms were observed at intensities around 1013 W/cm2 and 1016 W/cm2, resp.No lines of atomic ions have been identified in UV-vis spectra emitted from the plasmas formed by the FLASH beam focused in a 20-micron spot.

Druh

D - Stať ve sborníku

CEP obor

BH - Optika, masery a lasery

OECD FORD obor

—

Projekt

Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.

Návaznosti

P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)<br>Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Rok uplatnění

2009

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název statě ve sborníku

Damage to VUV, EUV, and X-ray Optics II

ISBN

9780819476357

ISSN

—

e-ISSN

—

Počet stran výsledku

10

Strana od-do

—

Název nakladatele

SPIE

Místo vydání

Bellingham

Místo konání akce

Prague

Datum konání akce

21. 4. 2009

Typ akce podle státní příslušnosti

WRD - Celosvětová akce

Kód UT WoS článku

—