Laser-induced damage studies in optical elements using x-ray laser interferometric microscopy

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68378271%3A_____%2F09%3A00336016" target="_blank" >RIV/68378271:_____/09:00336016 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

Laser-induced damage studies in optical elements using x-ray laser interferometric microscopy

Popis výsledku v původním jazyce

Results of a novel X-ray laser application, aimed at understanding the microscopic effects involved in formation of laserinduced damage in optical materials exposed to sub-ns laser pulses, will be presented. Specifically, we studied thin plane beamsplitters that are presently the weakest element of the next generation of high-energy lasers (LMJ, NIF), with permanent damage threshold below 20 J/cm2. Standard fused silica substrates and a model system, containing welldefined micron grooves as seeding sites to trigger damage when irradiated by 438 nm laser pulses, were in situ probed by a neon-like zinc X-ray laser delivering up to 10 mJ at 21.2 nm.

Název v anglickém jazyce

Laser-induced damage studies in optical elements using x-ray laser interferometric microscopy

Popis výsledku anglicky

Results of a novel X-ray laser application, aimed at understanding the microscopic effects involved in formation of laserinduced damage in optical materials exposed to sub-ns laser pulses, will be presented. Specifically, we studied thin plane beamsplitters that are presently the weakest element of the next generation of high-energy lasers (LMJ, NIF), with permanent damage threshold below 20 J/cm2. Standard fused silica substrates and a model system, containing welldefined micron grooves as seeding sites to trigger damage when irradiated by 438 nm laser pulses, were in situ probed by a neon-like zinc X-ray laser delivering up to 10 mJ at 21.2 nm.

Druh

D - Stať ve sborníku

CEP obor

BH - Optika, masery a lasery

OECD FORD obor

—

Projekt

Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.

Návaznosti

Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Rok uplatnění

2009

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název statě ve sborníku

Damage to VUV, EUV, and X-ray Optics II

ISBN

9780819476357

ISSN

—

e-ISSN

—

Počet stran výsledku

11

Strana od-do

—

Název nakladatele

SPIE

Místo vydání

Bellingham

Místo konání akce

Prague

Datum konání akce

21. 4. 2009

Typ akce podle státní příslušnosti

WRD - Celosvětová akce

Kód UT WoS článku

—