Investigations of laser-induced damages in fused silica optics using x-ray laser interferometric microscopy
Popis výsledku
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
Výsledek na webu
—
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Investigations of laser-induced damages in fused silica optics using x-ray laser interferometric microscopy
Popis výsledku v původním jazyce
A novel x-ray laser (XRL) application, aimed at understanding the microscopic effects involved in formation of laser-induced damage in optical materials exposed to high-power sub-ns laser pulses, is presented. Standard fused silica substrates with permanent damage threshold below 20 J /cm2, when irradiated by 438 nm laser pulses, were probed in situ by a neonlike zinc XRL at 21.2 nm. The probing beamline employed a double Lloyd?s mirror x-ray interferometer, used in conjunction with an imaging mirror toachieve magnification of 8.
Název v anglickém jazyce
Investigations of laser-induced damages in fused silica optics using x-ray laser interferometric microscopy
Popis výsledku anglicky
A novel x-ray laser (XRL) application, aimed at understanding the microscopic effects involved in formation of laser-induced damage in optical materials exposed to high-power sub-ns laser pulses, is presented. Standard fused silica substrates with permanent damage threshold below 20 J /cm2, when irradiated by 438 nm laser pulses, were probed in situ by a neonlike zinc XRL at 21.2 nm. The probing beamline employed a double Lloyd?s mirror x-ray interferometer, used in conjunction with an imaging mirror toachieve magnification of 8.
Klasifikace
Druh
Jx - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)
CEP obor
BH - Optika, masery a lasery
OECD FORD obor
—
Návaznosti výsledku
Projekt
Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.
Návaznosti
P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)
Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)
Ostatní
Rok uplatnění
2010
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Název periodika
Journal of Applied Physics
ISSN
0021-8979
e-ISSN
—
Svazek periodika
107
Číslo periodika v rámci svazku
10
Stát vydavatele periodika
US - Spojené státy americké
Počet stran výsledku
7
Strana od-do
—
Kód UT WoS článku
000278182400003
EID výsledku v databázi Scopus
—
Základní informace
Druh výsledku
Jx - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)
CEP
BH - Optika, masery a lasery
Rok uplatnění
2010