Investigations of laser-induced damages in fused silica optics using x-ray laser interferometric microscopy

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68378271%3A_____%2F10%3A00347553" target="_blank" >RIV/68378271:_____/10:00347553 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

Investigations of laser-induced damages in fused silica optics using x-ray laser interferometric microscopy

Popis výsledku v původním jazyce

A novel x-ray laser (XRL) application, aimed at understanding the microscopic effects involved in formation of laser-induced damage in optical materials exposed to high-power sub-ns laser pulses, is presented. Standard fused silica substrates with permanent damage threshold below 20 J /cm2, when irradiated by 438 nm laser pulses, were probed in situ by a neonlike zinc XRL at 21.2 nm. The probing beamline employed a double Lloyd?s mirror x-ray interferometer, used in conjunction with an imaging mirror toachieve magnification of 8.

Název v anglickém jazyce

Investigations of laser-induced damages in fused silica optics using x-ray laser interferometric microscopy

Popis výsledku anglicky

A novel x-ray laser (XRL) application, aimed at understanding the microscopic effects involved in formation of laser-induced damage in optical materials exposed to high-power sub-ns laser pulses, is presented. Standard fused silica substrates with permanent damage threshold below 20 J /cm2, when irradiated by 438 nm laser pulses, were probed in situ by a neonlike zinc XRL at 21.2 nm. The probing beamline employed a double Lloyd?s mirror x-ray interferometer, used in conjunction with an imaging mirror toachieve magnification of 8.

Druh

J_x - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)

CEP obor

BH - Optika, masery a lasery

OECD FORD obor

—

Projekt

Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.

Návaznosti

P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)<br>Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Rok uplatnění

2010

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název periodika

Journal of Applied Physics

ISSN

0021-8979

e-ISSN

—

Svazek periodika

107

Číslo periodika v rámci svazku

10

Stát vydavatele periodika

US - Spojené státy americké

Počet stran výsledku

7

Strana od-do

—

Kód UT WoS článku

000278182400003

EID výsledku v databázi Scopus

—