Interaction of short x-ray pulses ?with low-Z x-ray optics materials ?at the LCLS free-electron laser

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68378271%3A_____%2F10%3A00352022" target="_blank" >RIV/68378271:_____/10:00352022 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

Interaction of short x-ray pulses ?with low-Z x-ray optics materials ?at the LCLS free-electron laser

Popis výsledku v původním jazyce

Materials used for hard x-ray-free-electron laser (XFEL) optics must withstand high-intensity x-ray pulses. The advent of the Linac Coherent Light Source has enabled us to expose candidate optical materials, such as bulk B4C and SiC films, to 0.83 keV XFEL pulses with pulse energies between 1 ?J and 2 mJ to determine short-pulse hard x-ray damage thresholds. The fluence required for the onset of damage for single pulses is around the melt fluence and slightly lower for multiple pulses. We observed strong mechanical cracking in the materials, which may be due to the larger penetration depths of the hard x-rays.

Název v anglickém jazyce

Interaction of short x-ray pulses ?with low-Z x-ray optics materials ?at the LCLS free-electron laser

Popis výsledku anglicky

Materials used for hard x-ray-free-electron laser (XFEL) optics must withstand high-intensity x-ray pulses. The advent of the Linac Coherent Light Source has enabled us to expose candidate optical materials, such as bulk B4C and SiC films, to 0.83 keV XFEL pulses with pulse energies between 1 ?J and 2 mJ to determine short-pulse hard x-ray damage thresholds. The fluence required for the onset of damage for single pulses is around the melt fluence and slightly lower for multiple pulses. We observed strong mechanical cracking in the materials, which may be due to the larger penetration depths of the hard x-rays.

Druh

J_x - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)

CEP obor

BH - Optika, masery a lasery

OECD FORD obor

—

Projekt

Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.

Návaznosti

P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)<br>Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Rok uplatnění

2010

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název periodika

Optics Express

ISSN

1094-4087

e-ISSN

—

Svazek periodika

18

Číslo periodika v rámci svazku

23

Stát vydavatele periodika

US - Spojené státy americké

Počet stran výsledku

8

Strana od-do

—

Kód UT WoS článku

000283940900064

EID výsledku v databázi Scopus

—