Fourier transform photocurrent measurement of thin silicon films on rough, conductive and opaque substrates

Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68378271%3A_____%2F10%3A00366182" target="_blank" >RIV/68378271:_____/10:00366182 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
<a href="http://dx.doi.org/10.1002/pssa.200982890" target="_blank" >http://dx.doi.org/10.1002/pssa.200982890</a>
DOI - Digital Object Identifier
<a href="http://dx.doi.org/10.1002/pssa.200982890" target="_blank" >10.1002/pssa.200982890</a>

Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Fourier transform photocurrent measurement of thin silicon films on rough, conductive and opaque substrates
Popis výsledku v původním jazyce
Fourier transform photocurrent spectroscopy(FTPS)is used as an inspection method for hydrogenated amorphous silicon(a-Si:H)thin ?lms deposited on aluminium foil and aluminium foil coated with rough SnO2. These structures are part of roll-to-roll solar cell fabrication process.
Název v anglickém jazyce
Fourier transform photocurrent measurement of thin silicon films on rough, conductive and opaque substrates
Popis výsledku anglicky
Fourier transform photocurrent spectroscopy(FTPS)is used as an inspection method for hydrogenated amorphous silicon(a-Si:H)thin ?lms deposited on aluminium foil and aluminium foil coated with rough SnO2. These structures are part of roll-to-roll solar cell fabrication process.

Druh
J<sub>x</sub> - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)
CEP obor
BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
OECD FORD obor
—

Projekt
Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.
Návaznosti
Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Rok uplatnění
2010
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Podobné výsledky(10)