Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Detection of Elliptical Particles in Atomic Force Microscopy Images

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68378271%3A_____%2F11%3A00360082" target="_blank" >RIV/68378271:_____/11:00360082 - isvavai.cz</a>

  • Nalezeny alternativní kódy

    RIV/67985556:_____/11:00360082

  • Výsledek na webu

  • DOI - Digital Object Identifier

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    Detection of Elliptical Particles in Atomic Force Microscopy Images

  • Popis výsledku v původním jazyce

    In this paper we describe a method for detection and measurement of elliptical particles in atomic force microscopy (AFM) images. AFM imaging is used in physics to scan surfaces; the measured heights are represented by pixel values. Each sample in our project consisted of elliptical particles of principally the same size; the size could be characterized by the average length and width of a number of salient particles. The method we proposed is based on segmentation of undamaged particles and their approximation by ellipses; the major and minor axes provide robust estimates of the lengths and widths of the particles, respectively. The method is robust to distortions typical of AFM images. Its performance was demonstrated on images of pyrroles and compared with manual detection. Results show that the automatic method could be used in place of the time-consuming manual detection.

  • Název v anglickém jazyce

    Detection of Elliptical Particles in Atomic Force Microscopy Images

  • Popis výsledku anglicky

    In this paper we describe a method for detection and measurement of elliptical particles in atomic force microscopy (AFM) images. AFM imaging is used in physics to scan surfaces; the measured heights are represented by pixel values. Each sample in our project consisted of elliptical particles of principally the same size; the size could be characterized by the average length and width of a number of salient particles. The method we proposed is based on segmentation of undamaged particles and their approximation by ellipses; the major and minor axes provide robust estimates of the lengths and widths of the particles, respectively. The method is robust to distortions typical of AFM images. Its performance was demonstrated on images of pyrroles and compared with manual detection. Results show that the automatic method could be used in place of the time-consuming manual detection.

Klasifikace

  • Druh

    D - Stať ve sborníku

  • CEP obor

    IN - Informatika

  • OECD FORD obor

Návaznosti výsledku

  • Projekt

    Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.

  • Návaznosti

    P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)<br>Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2011

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Název statě ve sborníku

    ICASSP 2011: IEEE International Conference on Acoustics, Speech, and Signal Processing

  • ISBN

    978-1-4577-0537-3

  • ISSN

  • e-ISSN

  • Počet stran výsledku

    4

  • Strana od-do

    1233-1236

  • Název nakladatele

    IEEE

  • Místo vydání

    Praha

  • Místo konání akce

    Praha

  • Datum konání akce

    22. 5. 2011

  • Typ akce podle státní příslušnosti

    WRD - Celosvětová akce

  • Kód UT WoS článku