Automatic Determination of the Size of Elliptical Nanoparticles from AFM Images
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68378271%3A_____%2F13%3A00394390" target="_blank" >RIV/68378271:_____/13:00394390 - isvavai.cz</a>
Nalezeny alternativní kódy
RIV/67985556:_____/13:00394390
Výsledek na webu
<a href="http://dx.doi.org/10.1007/s11051-013-1842-8" target="_blank" >http://dx.doi.org/10.1007/s11051-013-1842-8</a>
DOI - Digital Object Identifier
<a href="http://dx.doi.org/10.1007/s11051-013-1842-8" target="_blank" >10.1007/s11051-013-1842-8</a>
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Automatic Determination of the Size of Elliptical Nanoparticles from AFM Images
Popis výsledku v původním jazyce
The objective of this work was to develop an accurate method for automatic determination of the size of elliptical nanoparticles from atomic force microscopy (AFM) images that would yield results consistent with results of manual measurements by experts.The proposed method was applied on phenylpyridyldiketopyrrolopyrrole (PPDP). A PPDP layer consists of similarly sized elliptical particles (c. 100 nm 9 50 nm) and its properties can be estimated from the average length and width of the particles. The developed method is based on segmentation of salient particles by the watershed transform and approximation of their shapes by ellipses computed by image moments; it estimates the lengths and widths of the particles by the major and minor axes, respectively, of the corresponding ellipses. Its results proved to be consistent with results of manual measurements by a trained expert. The comparison showed that the developed method could be used in practice for precise automatic measurement of
Název v anglickém jazyce
Automatic Determination of the Size of Elliptical Nanoparticles from AFM Images
Popis výsledku anglicky
The objective of this work was to develop an accurate method for automatic determination of the size of elliptical nanoparticles from atomic force microscopy (AFM) images that would yield results consistent with results of manual measurements by experts.The proposed method was applied on phenylpyridyldiketopyrrolopyrrole (PPDP). A PPDP layer consists of similarly sized elliptical particles (c. 100 nm 9 50 nm) and its properties can be estimated from the average length and width of the particles. The developed method is based on segmentation of salient particles by the watershed transform and approximation of their shapes by ellipses computed by image moments; it estimates the lengths and widths of the particles by the major and minor axes, respectively, of the corresponding ellipses. Its results proved to be consistent with results of manual measurements by a trained expert. The comparison showed that the developed method could be used in practice for precise automatic measurement of
Klasifikace
Druh
J<sub>x</sub> - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)
CEP obor
BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
OECD FORD obor
—
Návaznosti výsledku
Projekt
Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.
Návaznosti
I - Institucionalni podpora na dlouhodoby koncepcni rozvoj vyzkumne organizace
Ostatní
Rok uplatnění
2013
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Název periodika
Journal of Nanoparticle Research
ISSN
1388-0764
e-ISSN
—
Svazek periodika
15
Číslo periodika v rámci svazku
8
Stát vydavatele periodika
DE - Spolková republika Německo
Počet stran výsledku
10
Strana od-do
1-10
Kód UT WoS článku
000322593200037
EID výsledku v databázi Scopus
—