Study of thin films of LiNbO3 using FTIR and Raman spectroscopy
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68378271%3A_____%2F11%3A00374556" target="_blank" >RIV/68378271:_____/11:00374556 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
—
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Study of thin films of LiNbO3 using FTIR and Raman spectroscopy
Popis výsledku v původním jazyce
Lithium niobate (LiNbO3) is a material which can be used in many applications. LiNbO3 thin films were studied for the development of doped planar waveguides using Pulsed Laser Deposition (PLD) method from two targets. The films were deposited by PLD on SiO2/Si and (0001) sapphire substrates at temperatures 650°C, 700°C, 750°C, from one crystalline and two sintered LiNbO3 targets using KrF excimer laser. The film thickness was 680 nanometers. Two techniques - Fourier Transform Infrared Spectroscopy (FTIR) and Raman Spectroscopy - are used to characterize the dependence of the deposited thin films on the deposition conditions. These methods characterize the materials by monitoring their phonons whose spectra are sensitive to film deposition parameters. Bulk LiNbO3 has rhombohedral crystal structure with two chemical units per primitive cell, it means, that 30 degrees of freedom are distributed between A1 and E irreducible representations.
Název v anglickém jazyce
Study of thin films of LiNbO3 using FTIR and Raman spectroscopy
Popis výsledku anglicky
Lithium niobate (LiNbO3) is a material which can be used in many applications. LiNbO3 thin films were studied for the development of doped planar waveguides using Pulsed Laser Deposition (PLD) method from two targets. The films were deposited by PLD on SiO2/Si and (0001) sapphire substrates at temperatures 650°C, 700°C, 750°C, from one crystalline and two sintered LiNbO3 targets using KrF excimer laser. The film thickness was 680 nanometers. Two techniques - Fourier Transform Infrared Spectroscopy (FTIR) and Raman Spectroscopy - are used to characterize the dependence of the deposited thin films on the deposition conditions. These methods characterize the materials by monitoring their phonons whose spectra are sensitive to film deposition parameters. Bulk LiNbO3 has rhombohedral crystal structure with two chemical units per primitive cell, it means, that 30 degrees of freedom are distributed between A1 and E irreducible representations.
Klasifikace
Druh
D - Stať ve sborníku
CEP obor
BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
OECD FORD obor
—
Návaznosti výsledku
Projekt
Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.
Návaznosti
Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)
Ostatní
Rok uplatnění
2011
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Název statě ve sborníku
Photonics, Devices, and Systems V
ISBN
9780819489531
ISSN
—
e-ISSN
—
Počet stran výsledku
6
Strana od-do
"830611/1"-"830611/6"
Název nakladatele
SPIE
Místo vydání
Bellingham
Místo konání akce
Prague
Datum konání akce
24. 8. 2011
Typ akce podle státní příslušnosti
WRD - Celosvětová akce
Kód UT WoS článku
000297582500037