Investigation of multilayer X-ray optics for 6 keV to 20 keV energy range
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68378271%3A_____%2F12%3A00380741" target="_blank" >RIV/68378271:_____/12:00380741 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
<a href="http://dx.doi.org/10.1107/S0909049512032153" target="_blank" >http://dx.doi.org/10.1107/S0909049512032153</a>
DOI - Digital Object Identifier
<a href="http://dx.doi.org/10.1107/S0909049512032153" target="_blank" >10.1107/S0909049512032153</a>
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Investigation of multilayer X-ray optics for 6 keV to 20 keV energy range
Popis výsledku v původním jazyce
The X-ray optics group at the SLS (Swiss Light Source) in co-operation with RIT (Rigaku Innovative Technologies) has investigated seven different multilayer samples. The goal was to find an ideal multilayer structure for the energy range between 6 keV -20 keV in terms of energy resolution and reflectivity. Such multilayer structures deposited on substrates can be used as X-ray monochromators or reflecting synchrotron mirrors. The measured reflectivities agree with the simulated ones. They are coveringa reflectivity range from 45% - 80% for energies between 6 keV - 10 keV and 80% - 90% for energies between 10 keV - 20 keV. The experimentally measured energy resolution of the samples lies between 0.3% - 3.5%.
Název v anglickém jazyce
Investigation of multilayer X-ray optics for 6 keV to 20 keV energy range
Popis výsledku anglicky
The X-ray optics group at the SLS (Swiss Light Source) in co-operation with RIT (Rigaku Innovative Technologies) has investigated seven different multilayer samples. The goal was to find an ideal multilayer structure for the energy range between 6 keV -20 keV in terms of energy resolution and reflectivity. Such multilayer structures deposited on substrates can be used as X-ray monochromators or reflecting synchrotron mirrors. The measured reflectivities agree with the simulated ones. They are coveringa reflectivity range from 45% - 80% for energies between 6 keV - 10 keV and 80% - 90% for energies between 10 keV - 20 keV. The experimentally measured energy resolution of the samples lies between 0.3% - 3.5%.
Klasifikace
Druh
J<sub>x</sub> - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)
CEP obor
BH - Optika, masery a lasery
OECD FORD obor
—
Návaznosti výsledku
Projekt
—
Návaznosti
Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)
Ostatní
Rok uplatnění
2012
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Název periodika
Journal of Synchrotron Radiation
ISSN
0909-0495
e-ISSN
—
Svazek periodika
19
Číslo periodika v rámci svazku
5
Stát vydavatele periodika
DK - Dánské království
Počet stran výsledku
7
Strana od-do
675-681
Kód UT WoS článku
000307700100002
EID výsledku v databázi Scopus
—