How nanocrystalline diamond films become charged in nanoscale

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68378271%3A_____%2F12%3A00386473" target="_blank" >RIV/68378271:_____/12:00386473 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

<a href="http://dx.doi.org/10.1016/j.diamond.2011.10.002" target="_blank" >http://dx.doi.org/10.1016/j.diamond.2011.10.002</a>

DOI - Digital Object Identifier

<a href="http://dx.doi.org/10.1016/j.diamond.2011.10.002" target="_blank" >10.1016/j.diamond.2011.10.002</a>

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

How nanocrystalline diamond films become charged in nanoscale

Popis výsledku v původním jazyce

Electrostatic charging of oxygen-terminated nanocrystalline diamond (NCD) thin films deposited on silicon in sub-100 nm thickness and with intentionally high relative sp2 phase ratio (60%) is characterized on a microscopic level. By correlating Kelvin Force Microscopy, Current-Sensing Atomic Force Microscopy, micro-Raman spectroscopy and cross-sectional Scanning Electron Microscopy data we show that the charging is determined by both the surface topography (grains and grain boundaries) and complex sub-surface morphology (arrangement of grains and sp2 phase) on scales below 2 2 um2. These microscopic data and macroscopic I(V) characteristics evidence that sp2 phase dominates over diamond grains in local electrostatic charging of NCD thin films. Moreover, the tip-surface junction quality is identified as the main factor behind large variations (0.1 to 1 V) of the overall induced electrostatic charge contrast.

Název v anglickém jazyce

How nanocrystalline diamond films become charged in nanoscale

Popis výsledku anglicky

Electrostatic charging of oxygen-terminated nanocrystalline diamond (NCD) thin films deposited on silicon in sub-100 nm thickness and with intentionally high relative sp2 phase ratio (60%) is characterized on a microscopic level. By correlating Kelvin Force Microscopy, Current-Sensing Atomic Force Microscopy, micro-Raman spectroscopy and cross-sectional Scanning Electron Microscopy data we show that the charging is determined by both the surface topography (grains and grain boundaries) and complex sub-surface morphology (arrangement of grains and sp2 phase) on scales below 2 2 um2. These microscopic data and macroscopic I(V) characteristics evidence that sp2 phase dominates over diamond grains in local electrostatic charging of NCD thin films. Moreover, the tip-surface junction quality is identified as the main factor behind large variations (0.1 to 1 V) of the overall induced electrostatic charge contrast.

Druh

J_x - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)

CEP obor

BM - Fyzika pevných látek a magnetismus

OECD FORD obor

—

Projekt

Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.

Návaznosti

P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)<br>Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Rok uplatnění

2012

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název periodika

Diamond and Related Materials

ISSN

0925-9635

e-ISSN

—

Svazek periodika

24

Číslo periodika v rámci svazku

4

Stát vydavatele periodika

CH - Švýcarská konfederace

Počet stran výsledku

5

Strana od-do

39-43

Kód UT WoS článku

000303099700008

EID výsledku v databázi Scopus

—