Charge diffusion measurement in fully depleted CCD using 55Fe X-rays

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68378271%3A_____%2F12%3A00387925" target="_blank" >RIV/68378271:_____/12:00387925 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

<a href="http://dx.doi.org/10.1117/12.921327" target="_blank" >http://dx.doi.org/10.1117/12.921327</a>

DOI - Digital Object Identifier

<a href="http://dx.doi.org/10.1117/12.921327" target="_blank" >10.1117/12.921327</a>

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

Charge diffusion measurement in fully depleted CCD using 55Fe X-rays

Popis výsledku v původním jazyce

Tight requirements on the Large Synoptic Survey Telescope point spread function (PSF) demand sensor contribution to PSF be both small and well characterized. The sensor PSF is determined by the lateral charge diffusion on the drift path from the photon conversion point to the gates. The maximum drift path occurs for photons converted at the window, for blue optical photons in particular. Charges generated at the window surface undergo "worst case" charge spreading and the blue optical PSF is used to characterize the sensor's PSF. Different techniques for charge diffusion characterization have been developed, each with its own systematics and measurement difficulties. A new way to measure charge diffusion using an X-ray source is presented.

Název v anglickém jazyce

Charge diffusion measurement in fully depleted CCD using 55Fe X-rays

Popis výsledku anglicky

Tight requirements on the Large Synoptic Survey Telescope point spread function (PSF) demand sensor contribution to PSF be both small and well characterized. The sensor PSF is determined by the lateral charge diffusion on the drift path from the photon conversion point to the gates. The maximum drift path occurs for photons converted at the window, for blue optical photons in particular. Charges generated at the window surface undergo "worst case" charge spreading and the blue optical PSF is used to characterize the sensor's PSF. Different techniques for charge diffusion characterization have been developed, each with its own systematics and measurement difficulties. A new way to measure charge diffusion using an X-ray source is presented.

Druh

D - Stať ve sborníku

CEP obor

BN - Astronomie a nebeská mechanika, astrofyzika

OECD FORD obor

—

Projekt

—

Návaznosti

Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Rok uplatnění

2012

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název statě ve sborníku

High Energy, Optical, and Infrared Detectors for Astronomy V

ISBN

9780819491541

ISSN

—

e-ISSN

—

Počet stran výsledku

6

Strana od-do

—

Název nakladatele

SPIE

Místo vydání

Bellingham

Místo konání akce

Amsterdam

Datum konání akce

1. 7. 2012

Typ akce podle státní příslušnosti

WRD - Celosvětová akce

Kód UT WoS článku

000313678800037