Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Charge diffusion measurement in fully depleted CCD using X-rays

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68378271%3A_____%2F12%3A00387619" target="_blank" >RIV/68378271:_____/12:00387619 - isvavai.cz</a>

  • Výsledek na webu

    <a href="http://dx.doi.org/10.1016/j.nima.2011.11.027" target="_blank" >http://dx.doi.org/10.1016/j.nima.2011.11.027</a>

  • DOI - Digital Object Identifier

    <a href="http://dx.doi.org/10.1016/j.nima.2011.11.027" target="_blank" >10.1016/j.nima.2011.11.027</a>

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    Charge diffusion measurement in fully depleted CCD using X-rays

  • Popis výsledku v původním jazyce

    Tight requirements on the Large Synoptic Survey Telescope point spread function (PSF) demand sensor contribution to PSF be both small and well characterized. The sensor PSF is determined by the lateral charge diffusion on the drift path from the CCD window to the gates. Different techniques for charge diffusion characterization have been developed, each with its own systematics and measurement dif?culties. A new way to measure charge diffusion using an X-ray source is presented. We demonstrate the effectiveness and limitations of our technique.

  • Název v anglickém jazyce

    Charge diffusion measurement in fully depleted CCD using X-rays

  • Popis výsledku anglicky

    Tight requirements on the Large Synoptic Survey Telescope point spread function (PSF) demand sensor contribution to PSF be both small and well characterized. The sensor PSF is determined by the lateral charge diffusion on the drift path from the CCD window to the gates. Different techniques for charge diffusion characterization have been developed, each with its own systematics and measurement dif?culties. A new way to measure charge diffusion using an X-ray source is presented. We demonstrate the effectiveness and limitations of our technique.

Klasifikace

  • Druh

    J<sub>x</sub> - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)

  • CEP obor

    BN - Astronomie a nebeská mechanika, astrofyzika

  • OECD FORD obor

Návaznosti výsledku

  • Projekt

  • Návaznosti

    Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2012

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Název periodika

    Nuclear Instruments & Methods in Physics Research Section A

  • ISSN

    0168-9002

  • e-ISSN

  • Svazek periodika

    695

  • Číslo periodika v rámci svazku

    Dec

  • Stát vydavatele periodika

    NL - Nizozemsko

  • Počet stran výsledku

    2

  • Strana od-do

    296-297

  • Kód UT WoS článku

    000311469900065

  • EID výsledku v databázi Scopus