Anisotropic dielectric substrate as thin dielectric resonator

Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68378271%3A_____%2F12%3A00388656" target="_blank" >RIV/68378271:_____/12:00388656 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
<a href="http://www.crimico.org/en/" target="_blank" >http://www.crimico.org/en/</a>
DOI - Digital Object Identifier
—

Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Anisotropic dielectric substrate as thin dielectric resonator
Popis výsledku v původním jazyce
Dielectric resonances of thin anisotropic substrates are analyzed. It is shown that substrate orientation in a cylindrical shielding cavity influences the field distribution, coupling and excitation conditions, resonance frequency and quality factor of its TE01? resonance mode. The HE11? mode is split in two resonances whose intensities depend on substrate orientation and thickness. The optimal ways of anisotropic substrate parameters characterization are discussed.
Název v anglickém jazyce
Anisotropic dielectric substrate as thin dielectric resonator
Popis výsledku anglicky
Dielectric resonances of thin anisotropic substrates are analyzed. It is shown that substrate orientation in a cylindrical shielding cavity influences the field distribution, coupling and excitation conditions, resonance frequency and quality factor of its TE01? resonance mode. The HE11? mode is split in two resonances whose intensities depend on substrate orientation and thickness. The optimal ways of anisotropic substrate parameters characterization are discussed.

Projekt
<a href="/cs/project/GAP204%2F12%2F1163" target="_blank" >GAP204/12/1163: Fononová a dielektrická spektroskopie multiferoik</a><br>
Návaznosti
Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Rok uplatnění
2012
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Podobné výsledky(10)