Optimization of various technological processes in the fabrication of silicon based layers in SVCS process innovation high-temperature horizontal furnace SV-FUR reactors using multiphysics CFD-ace+ software
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68378271%3A_____%2F13%3A00424296" target="_blank" >RIV/68378271:_____/13:00424296 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
—
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Optimization of various technological processes in the fabrication of silicon based layers in SVCS process innovation high-temperature horizontal furnace SV-FUR reactors using multiphysics CFD-ace+ software
Popis výsledku v původním jazyce
A fabrication cycle of silicon based layers in semiconductor and PV industry includes several high-temperature processes. While the atmospheric-pressure thermal oxidation and diffusion are used for the SiO2 deposition and phosphorus or boron doping, respectively, the low-pressure CVD or plasma-enhanced CVD processes are used for the preparation of passivation and anti-reflecting coatings. One of the most important requirements in the production is a good homogeneity of the surface film created by the particular reaction process both across the Si wafer and within the whole load. In this contribution will be shown that the multiphysics modelling using the dedicated software package is very helpful in the optimization of process parameters leading not only to better homogeneity, but also to bet terutilization of the process gases, shortening the process time and other benefits, finally leading to an improvement of the manufacturing profitability and competitiveness of the product.
Název v anglickém jazyce
Optimization of various technological processes in the fabrication of silicon based layers in SVCS process innovation high-temperature horizontal furnace SV-FUR reactors using multiphysics CFD-ace+ software
Popis výsledku anglicky
A fabrication cycle of silicon based layers in semiconductor and PV industry includes several high-temperature processes. While the atmospheric-pressure thermal oxidation and diffusion are used for the SiO2 deposition and phosphorus or boron doping, respectively, the low-pressure CVD or plasma-enhanced CVD processes are used for the preparation of passivation and anti-reflecting coatings. One of the most important requirements in the production is a good homogeneity of the surface film created by the particular reaction process both across the Si wafer and within the whole load. In this contribution will be shown that the multiphysics modelling using the dedicated software package is very helpful in the optimization of process parameters leading not only to better homogeneity, but also to bet terutilization of the process gases, shortening the process time and other benefits, finally leading to an improvement of the manufacturing profitability and competitiveness of the product.
Klasifikace
Druh
D - Stať ve sborníku
CEP obor
BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
OECD FORD obor
—
Návaznosti výsledku
Projekt
<a href="/cs/project/TA01020972" target="_blank" >TA01020972: Modifikace jednotlivých technologických zařízení dávkových procesů pro zvýšení výtěžnosti výroby vysoce účinných křemíkových solárních článků s využitím modelovacích softwarů technologických procesů CFD-ACE+ a Flow Simulation.</a><br>
Návaznosti
I - Institucionalni podpora na dlouhodoby koncepcni rozvoj vyzkumne organizace
Ostatní
Rok uplatnění
2013
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Název statě ve sborníku
Perspektívne vákuové metódy a technológie (Perspective vacuum methods and technologies)
ISBN
978-80-971179-2-4
ISSN
—
e-ISSN
—
Počet stran výsledku
7
Strana od-do
25-31
Název nakladatele
Slovenská vákuová spoločnosť
Místo vydání
Bratislava
Místo konání akce
Štrbské Pleso
Datum konání akce
10. 10. 2013
Typ akce podle státní příslušnosti
EUR - Evropská akce
Kód UT WoS článku
—