Application of sum rule to the dispersion model of hydrogenated amorphous silicon

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68378271%3A_____%2F13%3A00424878" target="_blank" >RIV/68378271:_____/13:00424878 - isvavai.cz</a>

Nalezeny alternativní kódy

RIV/00216224:14740/13:00071631

Výsledek na webu

<a href="http://dx.doi.org/10.1016/j.tsf.2013.04.012" target="_blank" >http://dx.doi.org/10.1016/j.tsf.2013.04.012</a>

DOI - Digital Object Identifier

<a href="http://dx.doi.org/10.1016/j.tsf.2013.04.012" target="_blank" >10.1016/j.tsf.2013.04.012</a>

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

Application of sum rule to the dispersion model of hydrogenated amorphous silicon

Popis výsledku v původním jazyce

Optical data obtained for a-Si:H films by ellipsometry and spectrophotometry in the wide photon energy range 0.046?8.9 eV are fitted using the analytical dispersion models based on the application of the sum rule. The models include all absorption processes ranging from phonon absorption in IR region to core electron excitations in X-ray region. They take into account the existence of extended and localized states of valence electrons and distinguish transitions to conduction band and higher energy electron states.

Název v anglickém jazyce

Application of sum rule to the dispersion model of hydrogenated amorphous silicon

Popis výsledku anglicky

Optical data obtained for a-Si:H films by ellipsometry and spectrophotometry in the wide photon energy range 0.046?8.9 eV are fitted using the analytical dispersion models based on the application of the sum rule. The models include all absorption processes ranging from phonon absorption in IR region to core electron excitations in X-ray region. They take into account the existence of extended and localized states of valence electrons and distinguish transitions to conduction band and higher energy electron states.

Druh

J_x - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)

CEP obor

BM - Fyzika pevných látek a magnetismus

OECD FORD obor

—

Projekt

Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.

Návaznosti

I - Institucionalni podpora na dlouhodoby koncepcni rozvoj vyzkumne organizace

Rok uplatnění

2013

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název periodika

Thin Solid Films

ISSN

0040-6090

e-ISSN

—

Svazek periodika

539

Číslo periodika v rámci svazku

JUL

Stát vydavatele periodika

CH - Švýcarská konfederace

Počet stran výsledku

12

Strana od-do

233-244

Kód UT WoS článku

000321111100039

EID výsledku v databázi Scopus

—