AFM measurements of novel solar cells. Studying electronic properties of Si-based radial junctions

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68378271%3A_____%2F14%3A00432247" target="_blank" >RIV/68378271:_____/14:00432247 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

AFM measurements of novel solar cells. Studying electronic properties of Si-based radial junctions

Popis výsledku v původním jazyce

In this paper, we demonstrate the use of atomic force microscopy (AFM) with a conductive cantilever to study local electronic properties of silicon ­nanostructures: p-i-n radial junctions of amorphous Si grown on Si nanowires. We have observed variationsof the conductivity of the radial junction ­solar cells based on Si nanowires. Finally, we discuss possibilities of comparing the local photoresponse to local photovoltaic conversion efficiency.

Název v anglickém jazyce

AFM measurements of novel solar cells. Studying electronic properties of Si-based radial junctions

Popis výsledku anglicky

In this paper, we demonstrate the use of atomic force microscopy (AFM) with a conductive cantilever to study local electronic properties of silicon ­nanostructures: p-i-n radial junctions of amorphous Si grown on Si nanowires. We have observed variationsof the conductivity of the radial junction ­solar cells based on Si nanowires. Finally, we discuss possibilities of comparing the local photoresponse to local photovoltaic conversion efficiency.

Druh

J_x - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)

CEP obor

BM - Fyzika pevných látek a magnetismus

OECD FORD obor

—

Projekt

Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.

Návaznosti

I - Institucionalni podpora na dlouhodoby koncepcni rozvoj vyzkumne organizace

Rok uplatnění

2014

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název periodika

G.I.T. Imaging and Microscopy

ISSN

1439-4243

e-ISSN

—

Svazek periodika

—

Číslo periodika v rámci svazku

1

Stát vydavatele periodika

DE - Spolková republika Německo

Počet stran výsledku

2

Strana od-do

52-53

Kód UT WoS článku

—

EID výsledku v databázi Scopus

—