Thermoelectric Properties of Cu2HgSnSe4-Cu2HgSnTe4 Solid Solution

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68378271%3A_____%2F14%3A00434630" target="_blank" >RIV/68378271:_____/14:00434630 - isvavai.cz</a>

Nalezeny alternativní kódy

RIV/61389013:_____/14:00434630 RIV/00216275:25310/14:39897765

Výsledek na webu

<a href="http://dx.doi.org/10.1007/s11664-014-3075-8" target="_blank" >http://dx.doi.org/10.1007/s11664-014-3075-8</a>

DOI - Digital Object Identifier

<a href="http://dx.doi.org/10.1007/s11664-014-3075-8" target="_blank" >10.1007/s11664-014-3075-8</a>

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

Thermoelectric Properties of Cu2HgSnSe4-Cu2HgSnTe4 Solid Solution

Popis výsledku v původním jazyce

Polycrystalline samples from the Cu2HgSnSexTe4-x(x=0,0.8, 2, 3.2, 4) solid solution were prepared and structurally characterized by powder x-ray diffraction. Transport, TE, and thermal properties of hot-pressed samples are reported. About a 20 % reduction in calculated lattice thermal conductivities, compared to the lattice thermal conductivities of pure components of the alloys (i.e. Cu2HgSnSe4and Cu2HgSnTe4), was observed for Cu2HgSnSe2Te2 alloy. The maximum ZT of the Cu2HgSnSe2Te2 sample reaches 0.6at 575 K.

Název v anglickém jazyce

Thermoelectric Properties of Cu2HgSnSe4-Cu2HgSnTe4 Solid Solution

Popis výsledku anglicky

Polycrystalline samples from the Cu2HgSnSexTe4-x(x=0,0.8, 2, 3.2, 4) solid solution were prepared and structurally characterized by powder x-ray diffraction. Transport, TE, and thermal properties of hot-pressed samples are reported. About a 20 % reduction in calculated lattice thermal conductivities, compared to the lattice thermal conductivities of pure components of the alloys (i.e. Cu2HgSnSe4and Cu2HgSnTe4), was observed for Cu2HgSnSe2Te2 alloy. The maximum ZT of the Cu2HgSnSe2Te2 sample reaches 0.6at 575 K.

Druh

J_x - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)

CEP obor

CA - Anorganická chemie

OECD FORD obor

—

Projekt

<a href="/cs/project/GA13-33056S" target="_blank" >GA13-33056S: Charakterizace tenkých termoelektrických vrstev a multi-vrstevnatých struktur pomocí rastrovacího termálního mikroskopu a Harmanovy metody.</a><br>

Návaznosti

I - Institucionalni podpora na dlouhodoby koncepcni rozvoj vyzkumne organizace

Rok uplatnění

2014

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název periodika

Journal of Electronic Materials

ISSN

0361-5235

e-ISSN

—

Svazek periodika

43

Číslo periodika v rámci svazku

10

Stát vydavatele periodika

US - Spojené státy americké

Počet stran výsledku

7

Strana od-do

3719-3725

Kód UT WoS článku

000341878400001

EID výsledku v databázi Scopus

—