Identification of surface defects and subsurface dopants in a delta-doped system using simultaneous nc-AFM/STM and DFT

Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68378271%3A_____%2F14%3A00436462" target="_blank" >RIV/68378271:_____/14:00436462 - isvavai.cz</a>
Nalezeny alternativní kódy
RIV/68407700:21340/14:00369807
Výsledek na webu
<a href="http://dx.doi.org/10.1021/jp503410j" target="_blank" >http://dx.doi.org/10.1021/jp503410j</a>
DOI - Digital Object Identifier
<a href="http://dx.doi.org/10.1021/jp503410j" target="_blank" >10.1021/jp503410j</a>

Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Identification of surface defects and subsurface dopants in a delta-doped system using simultaneous nc-AFM/STM and DFT
Popis výsledku v původním jazyce
We have studied the near surface defects of the delta-doped B:Si(111)-(3 3)R30° system using a combination of scanning tunneling microscopy, non-contact atomic force microscopy, Kelvin probe force spectroscopy, total energy DFT, and STM theoretical simulations.
Název v anglickém jazyce
Identification of surface defects and subsurface dopants in a delta-doped system using simultaneous nc-AFM/STM and DFT
Popis výsledku anglicky
We have studied the near surface defects of the delta-doped B:Si(111)-(3 3)R30° system using a combination of scanning tunneling microscopy, non-contact atomic force microscopy, Kelvin probe force spectroscopy, total energy DFT, and STM theoretical simulations.

Druh
J<sub>x</sub> - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)
CEP obor
BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
OECD FORD obor
—

Projekt
<a href="/cs/project/GA14-02079S" target="_blank" >GA14-02079S: Kontrola jednoelektronových nábojových stavů v molekulách na površích</a><br>
Návaznosti
I - Institucionalni podpora na dlouhodoby koncepcni rozvoj vyzkumne organizace

Rok uplatnění
2014
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Podobné výsledky(10)