Charged-particle acceleration through laser irradiation of thin foils at Prague Asterix Laser System

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68378271%3A_____%2F14%3A00438840" target="_blank" >RIV/68378271:_____/14:00438840 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

<a href="http://dx.doi.org/10.1088/0031-8949/2014/T161/014027" target="_blank" >http://dx.doi.org/10.1088/0031-8949/2014/T161/014027</a>

DOI - Digital Object Identifier

<a href="http://dx.doi.org/10.1088/0031-8949/2014/T161/014027" target="_blank" >10.1088/0031-8949/2014/T161/014027</a>

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

Charged-particle acceleration through laser irradiation of thin foils at Prague Asterix Laser System

Popis výsledku v původním jazyce

Thin foils, 0.5?50 ?m in thickness, have been irradiated in vacuum at Prague Asterix Laser System in Prague using 1015-16 W cm-2 laser intensity, 1315 nm wavelength, 300 ps pulse duration and different focal positions. Produced plasmas from metals and polymers films have been monitored in the forward and backward directions. Ion and electron accelerations have been investigated by using Thomson parabola spectrometer, x-ray streak camera, ion collectors and SiC semiconductor detectors, the latter employed in time-of-flight configuration. Ion acceleration up to about 3 MeV per charge state was measured in the forward direction. Ion and electron emissions were detected at different angles as a function of the irradiation conditions.

Název v anglickém jazyce

Charged-particle acceleration through laser irradiation of thin foils at Prague Asterix Laser System

Popis výsledku anglicky

Thin foils, 0.5?50 ?m in thickness, have been irradiated in vacuum at Prague Asterix Laser System in Prague using 1015-16 W cm-2 laser intensity, 1315 nm wavelength, 300 ps pulse duration and different focal positions. Produced plasmas from metals and polymers films have been monitored in the forward and backward directions. Ion and electron accelerations have been investigated by using Thomson parabola spectrometer, x-ray streak camera, ion collectors and SiC semiconductor detectors, the latter employed in time-of-flight configuration. Ion acceleration up to about 3 MeV per charge state was measured in the forward direction. Ion and electron emissions were detected at different angles as a function of the irradiation conditions.

Druh

J_x - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)

CEP obor

BL - Fyzika plasmatu a výboje v plynech

OECD FORD obor

—

Projekt

—

Návaznosti

I - Institucionalni podpora na dlouhodoby koncepcni rozvoj vyzkumne organizace

Rok uplatnění

2014

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název periodika

Physica Scripta

ISSN

0031-8949

e-ISSN

—

Svazek periodika

T161

Číslo periodika v rámci svazku

May

Stát vydavatele periodika

SE - Švédské království

Počet stran výsledku

5

Strana od-do

1-4

Kód UT WoS článku

000339620200028

EID výsledku v databázi Scopus

—