Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Evolution of laser-produced Sn extreme ultraviolet source diameter for high-brightness source

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68378271%3A_____%2F14%3A00441167" target="_blank" >RIV/68378271:_____/14:00441167 - isvavai.cz</a>

  • Výsledek na webu

    <a href="http://dx.doi.org/10.1063/1.4893611" target="_blank" >http://dx.doi.org/10.1063/1.4893611</a>

  • DOI - Digital Object Identifier

    <a href="http://dx.doi.org/10.1063/1.4893611" target="_blank" >10.1063/1.4893611</a>

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    Evolution of laser-produced Sn extreme ultraviolet source diameter for high-brightness source

  • Popis výsledku v původním jazyce

    We have investigated the effect of irradiation of solid Sn targets with laser pulses of sub-ns duration and sub-mJ energy on the diameter of the extreme ultraviolet (EUV) emitting region and source conversion efficiency. It was found that an in-band EUVsource diameter as low as 18 lm was produced due to the short scale length of a plasma produced by a sub-ns laser. Most of the EUV emission occurs in a narrow region with a plasma density close to the critical density value. Such EUV sources are suitablefor high brightness and high repetition rate metrology applications.

  • Název v anglickém jazyce

    Evolution of laser-produced Sn extreme ultraviolet source diameter for high-brightness source

  • Popis výsledku anglicky

    We have investigated the effect of irradiation of solid Sn targets with laser pulses of sub-ns duration and sub-mJ energy on the diameter of the extreme ultraviolet (EUV) emitting region and source conversion efficiency. It was found that an in-band EUVsource diameter as low as 18 lm was produced due to the short scale length of a plasma produced by a sub-ns laser. Most of the EUV emission occurs in a narrow region with a plasma density close to the critical density value. Such EUV sources are suitablefor high brightness and high repetition rate metrology applications.

Klasifikace

  • Druh

    J<sub>x</sub> - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)

  • CEP obor

    BH - Optika, masery a lasery

  • OECD FORD obor

Návaznosti výsledku

  • Projekt

    Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.

  • Návaznosti

    I - Institucionalni podpora na dlouhodoby koncepcni rozvoj vyzkumne organizace

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2014

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Název periodika

    Applied Physics Letters

  • ISSN

    0003-6951

  • e-ISSN

  • Svazek periodika

    105

  • Číslo periodika v rámci svazku

    7

  • Stát vydavatele periodika

    US - Spojené státy americké

  • Počet stran výsledku

    4

  • Strana od-do

    "074103-1"-"074103-4"

  • Kód UT WoS článku

    000341189800113

  • EID výsledku v databázi Scopus