Prism coupling technique for characterization of the high refractive index planar waveguides

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68378271%3A_____%2F16%3A00468194" target="_blank" >RIV/68378271:_____/16:00468194 - isvavai.cz</a>

Nalezeny alternativní kódy

RIV/68407700:21230/16:00303896

Výsledek na webu

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

Prism coupling technique for characterization of the high refractive index planar waveguides

Popis výsledku v původním jazyce

We present the study of properties of semiconductor optical planar waveguides fabricated from materials with high refractive index. The nanocrystalline diamond and nanocrystalline zinc oxide planar waveguides have been deposited by microwave plasma enhanced chemical vapour deposition and by pulse laser deposition on glass substrates. Monocrystalline gallium nitride planar waveguides were prepared by metalorganic chemical vapour deposition on sapphire substrates. The morphology of prepared layers was characterized using scanning electron microscopy, Raman spectroscopy and X-ray diffraction. Waveguiding properties and the refractive indices of prepared thin films were determined by prism coupling technique and our measurement shows that our samples had waveguiding properties for all measured wavelengths from ultraviolet to infrared spectral range.

Název v anglickém jazyce

Prism coupling technique for characterization of the high refractive index planar waveguides

Popis výsledku anglicky

We present the study of properties of semiconductor optical planar waveguides fabricated from materials with high refractive index. The nanocrystalline diamond and nanocrystalline zinc oxide planar waveguides have been deposited by microwave plasma enhanced chemical vapour deposition and by pulse laser deposition on glass substrates. Monocrystalline gallium nitride planar waveguides were prepared by metalorganic chemical vapour deposition on sapphire substrates. The morphology of prepared layers was characterized using scanning electron microscopy, Raman spectroscopy and X-ray diffraction. Waveguiding properties and the refractive indices of prepared thin films were determined by prism coupling technique and our measurement shows that our samples had waveguiding properties for all measured wavelengths from ultraviolet to infrared spectral range.

Druh

J_x - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)

CEP obor

BM - Fyzika pevných látek a magnetismus

OECD FORD obor

—

Projekt

Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.

Návaznosti

I - Institucionalni podpora na dlouhodoby koncepcni rozvoj vyzkumne organizace

Rok uplatnění

2016

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název periodika

Journal of Optoelectronics and Advanced Materials

ISSN

1454-4164

e-ISSN

—

Svazek periodika

18

Číslo periodika v rámci svazku

11-12

Stát vydavatele periodika

RO - Rumunsko

Počet stran výsledku

7

Strana od-do

915-921

Kód UT WoS článku

000391777700001

EID výsledku v databázi Scopus

2-s2.0-85008448614