Back electrode influence on opto-electronic properties of organic photovoltaic blend characterized by Kelvin probe force microscopy
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68378271%3A_____%2F17%3A00478420" target="_blank" >RIV/68378271:_____/17:00478420 - isvavai.cz</a>
Nalezeny alternativní kódy
RIV/68407700:21230/17:00315080
Výsledek na webu
—
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Back electrode influence on opto-electronic properties of organic photovoltaic blend characterized by Kelvin probe force microscopy
Popis výsledku v původním jazyce
Organic photovoltaic (PV) system consisting of P3HT:PCBM blend layer was prepared with an aluminum (Al) back electrode. After the final thermal annealing the Al layer was partially removed. Kelvin Probe Force Microscopy (KPFM) was used to measure photovoltage response to illumination by a solar spectrum light as a function of time (up to 3 weeks). Comparison of the same KPFM measurement on the areas with and without Al revealed differences in both morphology and photovoltage response to illumination. The data are discussed with view to reducing degradation of organic PV devices.n
Název v anglickém jazyce
Back electrode influence on opto-electronic properties of organic photovoltaic blend characterized by Kelvin probe force microscopy
Popis výsledku anglicky
Organic photovoltaic (PV) system consisting of P3HT:PCBM blend layer was prepared with an aluminum (Al) back electrode. After the final thermal annealing the Al layer was partially removed. Kelvin Probe Force Microscopy (KPFM) was used to measure photovoltage response to illumination by a solar spectrum light as a function of time (up to 3 weeks). Comparison of the same KPFM measurement on the areas with and without Al revealed differences in both morphology and photovoltage response to illumination. The data are discussed with view to reducing degradation of organic PV devices.n
Klasifikace
Druh
D - Stať ve sborníku
CEP obor
—
OECD FORD obor
10302 - Condensed matter physics (including formerly solid state physics, supercond.)
Návaznosti výsledku
Projekt
Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.
Návaznosti
P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)
Ostatní
Rok uplatnění
2017
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Název statě ve sborníku
NANOCON 2016 8th International Conference on Nanomaterials - Research & Application. Conference proceedings
ISBN
978-80-87294-71-0
ISSN
—
e-ISSN
—
Počet stran výsledku
5
Strana od-do
291-295
Název nakladatele
TANGER Ltd.
Místo vydání
Ostrava
Místo konání akce
Brno
Datum konání akce
19. 10. 2016
Typ akce podle státní příslušnosti
WRD - Celosvětová akce
Kód UT WoS článku
—