Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Back electrode influence on opto-electronic properties of organic photovoltaic blend characterized by Kelvin probe force microscopy

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68378271%3A_____%2F17%3A00478420" target="_blank" >RIV/68378271:_____/17:00478420 - isvavai.cz</a>

  • Nalezeny alternativní kódy

    RIV/68407700:21230/17:00315080

  • Výsledek na webu

  • DOI - Digital Object Identifier

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    Back electrode influence on opto-electronic properties of organic photovoltaic blend characterized by Kelvin probe force microscopy

  • Popis výsledku v původním jazyce

    Organic photovoltaic (PV) system consisting of P3HT:PCBM blend layer was prepared with an aluminum (Al) back electrode. After the final thermal annealing the Al layer was partially removed. Kelvin Probe Force Microscopy (KPFM) was used to measure photovoltage response to illumination by a solar spectrum light as a function of time (up to 3 weeks). Comparison of the same KPFM measurement on the areas with and without Al revealed differences in both morphology and photovoltage response to illumination. The data are discussed with view to reducing degradation of organic PV devices.n

  • Název v anglickém jazyce

    Back electrode influence on opto-electronic properties of organic photovoltaic blend characterized by Kelvin probe force microscopy

  • Popis výsledku anglicky

    Organic photovoltaic (PV) system consisting of P3HT:PCBM blend layer was prepared with an aluminum (Al) back electrode. After the final thermal annealing the Al layer was partially removed. Kelvin Probe Force Microscopy (KPFM) was used to measure photovoltage response to illumination by a solar spectrum light as a function of time (up to 3 weeks). Comparison of the same KPFM measurement on the areas with and without Al revealed differences in both morphology and photovoltage response to illumination. The data are discussed with view to reducing degradation of organic PV devices.n

Klasifikace

  • Druh

    D - Stať ve sborníku

  • CEP obor

  • OECD FORD obor

    10302 - Condensed matter physics (including formerly solid state physics, supercond.)

Návaznosti výsledku

  • Projekt

    Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.

  • Návaznosti

    P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2017

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Název statě ve sborníku

    NANOCON 2016 8th International Conference on Nanomaterials - Research & Application. Conference proceedings

  • ISBN

    978-80-87294-71-0

  • ISSN

  • e-ISSN

  • Počet stran výsledku

    5

  • Strana od-do

    291-295

  • Název nakladatele

    TANGER Ltd.

  • Místo vydání

    Ostrava

  • Místo konání akce

    Brno

  • Datum konání akce

    19. 10. 2016

  • Typ akce podle státní příslušnosti

    WRD - Celosvětová akce

  • Kód UT WoS článku