More features, more tools, more CrysTBox

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68378271%3A_____%2F17%3A00479945" target="_blank" >RIV/68378271:_____/17:00479945 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

<a href="http://dx.doi.org/10.1107/S1600576717006793" target="_blank" >http://dx.doi.org/10.1107/S1600576717006793</a>

DOI - Digital Object Identifier

<a href="http://dx.doi.org/10.1107/S1600576717006793" target="_blank" >10.1107/S1600576717006793</a>

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

More features, more tools, more CrysTBox

Popis výsledku v původním jazyce

A new release of the CrysTBox software is introduced. The original toolbox allows for an automated analysis of transmission electron microscope (TEM)images and for crystallographic visualization. The existing tools, which are capable of highly precise analyses of high-resolution TEM images, as well as spot, disc and ring diffractio patterns, are extended to include a tool for automatically measuring TEM sample thickness using convergent beam electron diffraction in a two-beam approximation. An implementation of geometric phase analysis is newly available, employing one of the existing tools to identify parameters and indices of crystallographic planes depicted in the input image and allowing easier and more accurate analysis.n

Název v anglickém jazyce

More features, more tools, more CrysTBox

Popis výsledku anglicky

A new release of the CrysTBox software is introduced. The original toolbox allows for an automated analysis of transmission electron microscope (TEM)images and for crystallographic visualization. The existing tools, which are capable of highly precise analyses of high-resolution TEM images, as well as spot, disc and ring diffractio patterns, are extended to include a tool for automatically measuring TEM sample thickness using convergent beam electron diffraction in a two-beam approximation. An implementation of geometric phase analysis is newly available, employing one of the existing tools to identify parameters and indices of crystallographic planes depicted in the input image and allowing easier and more accurate analysis.n

Druh

J_imp - Článek v periodiku v databázi Web of Science

CEP obor

—

OECD FORD obor

10302 - Condensed matter physics (including formerly solid state physics, supercond.)

Projekt

<a href="/cs/project/GBP108%2F12%2FG043" target="_blank" >GBP108/12/G043: Mikro- a nanokrystalické materiály s vysokým podílem rozhraní pro moderní strukturní aplikace, biodegradabilní implantáty a uchovávání vodíku</a><br>

Návaznosti

P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)

Rok uplatnění

2017

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název periodika

Journal of Applied Crystallography

ISSN

1600-5767

e-ISSN

—

Svazek periodika

50

Číslo periodika v rámci svazku

Part 4

Stát vydavatele periodika

GB - Spojené království Velké Británie a Severního Irska

Počet stran výsledku

9

Strana od-do

1226-1234

Kód UT WoS článku

000407040700027

EID výsledku v databázi Scopus

2-s2.0-85026898297