Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Preparation of Ni-Mn-Ga Micropillars Using Focused Xe-ion Beam Milling for Magnetic Actuation on Microscale

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68378271%3A_____%2F18%3A00496285" target="_blank" >RIV/68378271:_____/18:00496285 - isvavai.cz</a>

  • Výsledek na webu

  • DOI - Digital Object Identifier

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    Preparation of Ni-Mn-Ga Micropillars Using Focused Xe-ion Beam Milling for Magnetic Actuation on Microscale

  • Popis výsledku v původním jazyce

    Magnetic shape memory alloys are promising candidates for actuation on microscale. We investigate the possibility of using focused Xe-ion (as an alternative to Ga-ion) beam milling (Xe-FIB) for microfabrication on Ni-Mn-Ga magnetic shape memory single crystals. We started with the most basic structures such as micropillars. Xe-FIB working conditions of 30 kV/100 nA results in large curtaining effect thus for micrometre sized structures a two-step milling procedure was used with the final polishing conditions of 30 kV/100 pA. Pillars down to 1 micrometre size were produced preparation of 10 x 10 micrometres square-base pillar for magnetomechanical testing is illustrated in individual steps. By the combination of mechanical testing and optical microscopy we demonstrate that the Xe-FIB milling does not significantly change the ability of martensite twin boundaries to propagate through the fabricated pillars.

  • Název v anglickém jazyce

    Preparation of Ni-Mn-Ga Micropillars Using Focused Xe-ion Beam Milling for Magnetic Actuation on Microscale

  • Popis výsledku anglicky

    Magnetic shape memory alloys are promising candidates for actuation on microscale. We investigate the possibility of using focused Xe-ion (as an alternative to Ga-ion) beam milling (Xe-FIB) for microfabrication on Ni-Mn-Ga magnetic shape memory single crystals. We started with the most basic structures such as micropillars. Xe-FIB working conditions of 30 kV/100 nA results in large curtaining effect thus for micrometre sized structures a two-step milling procedure was used with the final polishing conditions of 30 kV/100 pA. Pillars down to 1 micrometre size were produced preparation of 10 x 10 micrometres square-base pillar for magnetomechanical testing is illustrated in individual steps. By the combination of mechanical testing and optical microscopy we demonstrate that the Xe-FIB milling does not significantly change the ability of martensite twin boundaries to propagate through the fabricated pillars.

Klasifikace

  • Druh

    D - Stať ve sborníku

  • CEP obor

  • OECD FORD obor

    10302 - Condensed matter physics (including formerly solid state physics, supercond.)

Návaznosti výsledku

  • Projekt

  • Návaznosti

    I - Institucionalni podpora na dlouhodoby koncepcni rozvoj vyzkumne organizace

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2018

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Název statě ve sborníku

    Proceedings International Conference on New Actuators /16./

  • ISBN

    978-3933339300

  • ISSN

  • e-ISSN

  • Počet stran výsledku

    4

  • Strana od-do

    1-642

  • Název nakladatele

    VDE VERLAG

  • Místo vydání

    Bremen

  • Místo konání akce

    Bremen

  • Datum konání akce

    25. 6. 2018

  • Typ akce podle státní příslušnosti

    WRD - Celosvětová akce

  • Kód UT WoS článku