Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

HHG beam wavefront characterization at 30 nm

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68378271%3A_____%2F18%3A00522543" target="_blank" >RIV/68378271:_____/18:00522543 - isvavai.cz</a>

  • Výsledek na webu

    <a href="http://dx.doi.org/10.1007/978-3-319-73025-7_14" target="_blank" >http://dx.doi.org/10.1007/978-3-319-73025-7_14</a>

  • DOI - Digital Object Identifier

    <a href="http://dx.doi.org/10.1007/978-3-319-73025-7_14" target="_blank" >10.1007/978-3-319-73025-7_14</a>

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    HHG beam wavefront characterization at 30 nm

  • Popis výsledku v původním jazyce

    For the purpose of characterization and improvement of the HHG (High-order Harmonics Generation) eXtreme Ultra-Violet (XUV) coherent beam at the wavelength 30 nm, we developed a unique wavefront sensor based on PDI (Point Diffraction Interferometer) technique. A simple self-referencing monolithic device produces interferometric pattern with encoded information about the wavefront profile of the measured beam. We describe the development, fabrication, and alignment of the sensor, as well as the obtained results and their interpretation.

  • Název v anglickém jazyce

    HHG beam wavefront characterization at 30 nm

  • Popis výsledku anglicky

    For the purpose of characterization and improvement of the HHG (High-order Harmonics Generation) eXtreme Ultra-Violet (XUV) coherent beam at the wavelength 30 nm, we developed a unique wavefront sensor based on PDI (Point Diffraction Interferometer) technique. A simple self-referencing monolithic device produces interferometric pattern with encoded information about the wavefront profile of the measured beam. We describe the development, fabrication, and alignment of the sensor, as well as the obtained results and their interpretation.

Klasifikace

  • Druh

    D - Stať ve sborníku

  • CEP obor

  • OECD FORD obor

    10306 - Optics (including laser optics and quantum optics)

Návaznosti výsledku

  • Projekt

  • Návaznosti

    I - Institucionalni podpora na dlouhodoby koncepcni rozvoj vyzkumne organizace

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2018

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Název statě ve sborníku

    X-Ray Lasers 2016: Proceedings of the 15th International Conference on X-Ray Lasers

  • ISBN

    978-3-319-73024-0

  • ISSN

    0930-8989

  • e-ISSN

  • Počet stran výsledku

    7

  • Strana od-do

    93-99

  • Název nakladatele

    Springer International Publishing

  • Místo vydání

    Cham

  • Místo konání akce

    Nara

  • Datum konání akce

    22. 5. 2016

  • Typ akce podle státní příslušnosti

    WRD - Celosvětová akce

  • Kód UT WoS článku

    000454338700014