Wavefront sensing of XUV beams
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68378271%3A_____%2F09%3A00334230" target="_blank" >RIV/68378271:_____/09:00334230 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
—
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Wavefront sensing of XUV beams
Popis výsledku v původním jazyce
For the purpose of the wavefront profile measurement of XUV beams emitting at 21.2 nm and 30 nm, we designed the PDI (Point Diffraction Interferometer) wavefront sensor. PDI is a self-referencing monolithic device consisting of a thin neutral filter anda very small pinhole located near the axis of the XUV beam focal spot. The small pinhole works as a diffraction aperture generating a reference spherical wave, and working as well as a spatial filter. The material of the thin foil is partially transparent for the XUV radiation, and it determines the visibility of the interference fringes. The interference pattern is recorded by an XUV detector placed behind the foil. From the information encoded in the pattern it is possible sequentially to reconstructthe beam wavefront profile. We will discuss the design and optimization of the PDI wavefront sensor setup.
Název v anglickém jazyce
Wavefront sensing of XUV beams
Popis výsledku anglicky
For the purpose of the wavefront profile measurement of XUV beams emitting at 21.2 nm and 30 nm, we designed the PDI (Point Diffraction Interferometer) wavefront sensor. PDI is a self-referencing monolithic device consisting of a thin neutral filter anda very small pinhole located near the axis of the XUV beam focal spot. The small pinhole works as a diffraction aperture generating a reference spherical wave, and working as well as a spatial filter. The material of the thin foil is partially transparent for the XUV radiation, and it determines the visibility of the interference fringes. The interference pattern is recorded by an XUV detector placed behind the foil. From the information encoded in the pattern it is possible sequentially to reconstructthe beam wavefront profile. We will discuss the design and optimization of the PDI wavefront sensor setup.
Klasifikace
Druh
D - Stať ve sborníku
CEP obor
BH - Optika, masery a lasery
OECD FORD obor
—
Návaznosti výsledku
Projekt
Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.
Návaznosti
Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)
Ostatní
Rok uplatnění
2009
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Název statě ve sborníku
EUV and X-Ray Optics: Synergy between Laboratory and Space
ISBN
9780819476340
ISSN
—
e-ISSN
—
Počet stran výsledku
11
Strana od-do
—
Název nakladatele
SPIE
Místo vydání
Bellingham
Místo konání akce
Prague
Datum konání akce
20. 4. 2009
Typ akce podle státní příslušnosti
WRD - Celosvětová akce
Kód UT WoS článku
—