Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Wavefront sensing of XUV beams

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68378271%3A_____%2F09%3A00334230" target="_blank" >RIV/68378271:_____/09:00334230 - isvavai.cz</a>

  • Výsledek na webu

  • DOI - Digital Object Identifier

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    Wavefront sensing of XUV beams

  • Popis výsledku v původním jazyce

    For the purpose of the wavefront profile measurement of XUV beams emitting at 21.2 nm and 30 nm, we designed the PDI (Point Diffraction Interferometer) wavefront sensor. PDI is a self-referencing monolithic device consisting of a thin neutral filter anda very small pinhole located near the axis of the XUV beam focal spot. The small pinhole works as a diffraction aperture generating a reference spherical wave, and working as well as a spatial filter. The material of the thin foil is partially transparent for the XUV radiation, and it determines the visibility of the interference fringes. The interference pattern is recorded by an XUV detector placed behind the foil. From the information encoded in the pattern it is possible sequentially to reconstructthe beam wavefront profile. We will discuss the design and optimization of the PDI wavefront sensor setup.

  • Název v anglickém jazyce

    Wavefront sensing of XUV beams

  • Popis výsledku anglicky

    For the purpose of the wavefront profile measurement of XUV beams emitting at 21.2 nm and 30 nm, we designed the PDI (Point Diffraction Interferometer) wavefront sensor. PDI is a self-referencing monolithic device consisting of a thin neutral filter anda very small pinhole located near the axis of the XUV beam focal spot. The small pinhole works as a diffraction aperture generating a reference spherical wave, and working as well as a spatial filter. The material of the thin foil is partially transparent for the XUV radiation, and it determines the visibility of the interference fringes. The interference pattern is recorded by an XUV detector placed behind the foil. From the information encoded in the pattern it is possible sequentially to reconstructthe beam wavefront profile. We will discuss the design and optimization of the PDI wavefront sensor setup.

Klasifikace

  • Druh

    D - Stať ve sborníku

  • CEP obor

    BH - Optika, masery a lasery

  • OECD FORD obor

Návaznosti výsledku

  • Projekt

    Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.

  • Návaznosti

    Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2009

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Název statě ve sborníku

    EUV and X-Ray Optics: Synergy between Laboratory and Space

  • ISBN

    9780819476340

  • ISSN

  • e-ISSN

  • Počet stran výsledku

    11

  • Strana od-do

  • Název nakladatele

    SPIE

  • Místo vydání

    Bellingham

  • Místo konání akce

    Prague

  • Datum konání akce

    20. 4. 2009

  • Typ akce podle státní příslušnosti

    WRD - Celosvětová akce

  • Kód UT WoS článku