Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Měření profilu vlnoplochy X laseru pomocí PDI techniky

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68407700%3A21220%2F07%3A02133406" target="_blank" >RIV/68407700:21220/07:02133406 - isvavai.cz</a>

  • Výsledek na webu

  • DOI - Digital Object Identifier

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    Measurements of x-ray laser wavefront profile using PDI technique

  • Popis výsledku v původním jazyce

    The point diffraction interferometer (PDI) is a simple self-referencing interferometer, designed here to measure the wavefront profile of a soft X-ray laser emitting at the wavelength of 21.2 nm. It is a monolithic device consisting of a thin filter anda very small pinhole (~1 um), located near the axis of the X-ray laser focal spot. The foil material around the hole is semitransparent for the X-ray radiation of interest, acting like a neutral density filter. The small pinhole is a diffraction apertureand plays a spatial filtering role, generating spherical wave that acts a reference. The interferometric pattern is produced on a detector placed a few centimeters behind the foil. The beam wavefront profile is reconstructed from the information encodedin the pattern. In this paper we discuss the overall design of the PDI wavefront sensor setup, namely its geometry, fringe contrast, level of the detected signal, size of the pinhole, and candidate materials for the PDI foil.

  • Název v anglickém jazyce

    Measurements of x-ray laser wavefront profile using PDI technique

  • Popis výsledku anglicky

    The point diffraction interferometer (PDI) is a simple self-referencing interferometer, designed here to measure the wavefront profile of a soft X-ray laser emitting at the wavelength of 21.2 nm. It is a monolithic device consisting of a thin filter anda very small pinhole (~1 um), located near the axis of the X-ray laser focal spot. The foil material around the hole is semitransparent for the X-ray radiation of interest, acting like a neutral density filter. The small pinhole is a diffraction apertureand plays a spatial filtering role, generating spherical wave that acts a reference. The interferometric pattern is produced on a detector placed a few centimeters behind the foil. The beam wavefront profile is reconstructed from the information encodedin the pattern. In this paper we discuss the overall design of the PDI wavefront sensor setup, namely its geometry, fringe contrast, level of the detected signal, size of the pinhole, and candidate materials for the PDI foil.

Klasifikace

  • Druh

    D - Stať ve sborníku

  • CEP obor

    BH - Optika, masery a lasery

  • OECD FORD obor

Návaznosti výsledku

  • Projekt

  • Návaznosti

    S - Specificky vyzkum na vysokych skolach

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2007

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Název statě ve sborníku

    Proceedings of SPIE -- Volume 6702 Soft X-Ray Lasers and Applications VII

  • ISBN

  • ISSN

    0277-786X

  • e-ISSN

  • Počet stran výsledku

    8

  • Strana od-do

  • Název nakladatele

    SPIE Europe

  • Místo vydání

    Warsaw

  • Místo konání akce

    Praha

  • Datum konání akce

    16. 4. 2007

  • Typ akce podle státní příslušnosti

    EUR - Evropská akce

  • Kód UT WoS článku