Měření profilu vlnoplochy X laseru pomocí PDI techniky
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68407700%3A21220%2F07%3A02133406" target="_blank" >RIV/68407700:21220/07:02133406 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
—
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Measurements of x-ray laser wavefront profile using PDI technique
Popis výsledku v původním jazyce
The point diffraction interferometer (PDI) is a simple self-referencing interferometer, designed here to measure the wavefront profile of a soft X-ray laser emitting at the wavelength of 21.2 nm. It is a monolithic device consisting of a thin filter anda very small pinhole (~1 um), located near the axis of the X-ray laser focal spot. The foil material around the hole is semitransparent for the X-ray radiation of interest, acting like a neutral density filter. The small pinhole is a diffraction apertureand plays a spatial filtering role, generating spherical wave that acts a reference. The interferometric pattern is produced on a detector placed a few centimeters behind the foil. The beam wavefront profile is reconstructed from the information encodedin the pattern. In this paper we discuss the overall design of the PDI wavefront sensor setup, namely its geometry, fringe contrast, level of the detected signal, size of the pinhole, and candidate materials for the PDI foil.
Název v anglickém jazyce
Measurements of x-ray laser wavefront profile using PDI technique
Popis výsledku anglicky
The point diffraction interferometer (PDI) is a simple self-referencing interferometer, designed here to measure the wavefront profile of a soft X-ray laser emitting at the wavelength of 21.2 nm. It is a monolithic device consisting of a thin filter anda very small pinhole (~1 um), located near the axis of the X-ray laser focal spot. The foil material around the hole is semitransparent for the X-ray radiation of interest, acting like a neutral density filter. The small pinhole is a diffraction apertureand plays a spatial filtering role, generating spherical wave that acts a reference. The interferometric pattern is produced on a detector placed a few centimeters behind the foil. The beam wavefront profile is reconstructed from the information encodedin the pattern. In this paper we discuss the overall design of the PDI wavefront sensor setup, namely its geometry, fringe contrast, level of the detected signal, size of the pinhole, and candidate materials for the PDI foil.
Klasifikace
Druh
D - Stať ve sborníku
CEP obor
BH - Optika, masery a lasery
OECD FORD obor
—
Návaznosti výsledku
Projekt
—
Návaznosti
S - Specificky vyzkum na vysokych skolach
Ostatní
Rok uplatnění
2007
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Název statě ve sborníku
Proceedings of SPIE -- Volume 6702 Soft X-Ray Lasers and Applications VII
ISBN
—
ISSN
0277-786X
e-ISSN
—
Počet stran výsledku
8
Strana od-do
—
Název nakladatele
SPIE Europe
Místo vydání
Warsaw
Místo konání akce
Praha
Datum konání akce
16. 4. 2007
Typ akce podle státní příslušnosti
EUR - Evropská akce
Kód UT WoS článku
—