A comparison of LIDT behavior of AR-coated yttrium-aluminium-garnet substrates with respect to thin-film design and coating technology
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68378271%3A_____%2F18%3A00542382" target="_blank" >RIV/68378271:_____/18:00542382 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
<a href="https://www.spiedigitallibrary.org/conference-proceedings-of-spie/10805/2500189/A-comparison-of-LIDT-behavior-of-AR-coated-yttrium-aluminium/10.1117/12.2500189.short" target="_blank" >https://www.spiedigitallibrary.org/conference-proceedings-of-spie/10805/2500189/A-comparison-of-LIDT-behavior-of-AR-coated-yttrium-aluminium/10.1117/12.2500189.short</a>
DOI - Digital Object Identifier
<a href="http://dx.doi.org/10.1117/12.2500189" target="_blank" >10.1117/12.2500189</a>
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
A comparison of LIDT behavior of AR-coated yttrium-aluminium-garnet substrates with respect to thin-film design and coating technology
Popis výsledku v původním jazyce
Several sets of polished substrates were manufactured from monocrystalline yttrium-aluminium-garnet (YAG) grown by the Czochralski method. Samples were coated by both narrow-band and broad-band dielectric anti-reflection (AR) thin-film system prepared using either reactive or ion-assisted e-beam deposition technology and tested for laser-induced damage threshold (LIDT) at 1030 nm 10 ns in s-on-1 mode according to the ISO 21254 standard. Measured damage thresholds at normal (0 deg) incidence were compared for different thin-film designs and coating technology.
Název v anglickém jazyce
A comparison of LIDT behavior of AR-coated yttrium-aluminium-garnet substrates with respect to thin-film design and coating technology
Popis výsledku anglicky
Several sets of polished substrates were manufactured from monocrystalline yttrium-aluminium-garnet (YAG) grown by the Czochralski method. Samples were coated by both narrow-band and broad-band dielectric anti-reflection (AR) thin-film system prepared using either reactive or ion-assisted e-beam deposition technology and tested for laser-induced damage threshold (LIDT) at 1030 nm 10 ns in s-on-1 mode according to the ISO 21254 standard. Measured damage thresholds at normal (0 deg) incidence were compared for different thin-film designs and coating technology.
Klasifikace
Druh
D - Stať ve sborníku
CEP obor
—
OECD FORD obor
10306 - Optics (including laser optics and quantum optics)
Návaznosti výsledku
Projekt
<a href="/cs/project/TH02010579" target="_blank" >TH02010579: Stabilní tenké vrstvy pro optické a monokrystalické materiály</a><br>
Návaznosti
P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)
Ostatní
Rok uplatnění
2018
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Název statě ve sborníku
Laser-Induced Damage in Optical Materials
ISBN
978-1-510-62194-7
ISSN
0277-786X
e-ISSN
—
Počet stran výsledku
7
Strana od-do
108051R
Název nakladatele
SPIE
Místo vydání
Bellingham
Místo konání akce
Boulder
Datum konání akce
23. 9. 2018
Typ akce podle státní příslušnosti
WRD - Celosvětová akce
Kód UT WoS článku
000468660700028