Kompaktní systém pro charakterizaci spektra a profilu intenzity svazku krátkovlnného záření
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68378271%3A_____%2F18%3A00545622" target="_blank" >RIV/68378271:_____/18:00545622 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
<a href="https://isdv.upv.cz/doc/FullFiles/Patents/FullDocuments/307/307169.pdf" target="_blank" >https://isdv.upv.cz/doc/FullFiles/Patents/FullDocuments/307/307169.pdf</a>
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
čeština
Název v původním jazyce
Kompaktní systém pro charakterizaci spektra a profilu intenzity svazku krátkovlnného záření
Popis výsledku v původním jazyce
Vynález se zabývá kompaktním systémem provozovaném v režimu spektrální charakterizace svazku nebo v režimu monitorování intenzivního profilu, který obsahuje: difrakční element stínítko, které je mechanicky svázáno s difrakčním elementem přičemž stínítko v režimu spektrální charakterizace blokuje průchod svazku v příchozím smměru, zařízení pro mechanický posuv stínítka a difrakčního elementu, přičemž toto zařízení je schopno posuvu jak v transverzálním směru, tak i ve směru longitudinálním, reflexní element a fixně umístěný detektor, který leží na optické ose příchozího svazku. Kompaktní systém má uplatnění v oblasti spektrometrie a diagnostiky intenzivního profilu svazku, zejména pak v oblasti XUV a mekkého RTG záření.
Název v anglickém jazyce
A compact system for characterizing the spectrum and intensity profile of shortwave radiation beams
Popis výsledku anglicky
The present invention concerns an apparatus for spectral and intensity profile characterization comprising: a diffractive element a beam block (3) attached to the diffractive element, the beam block (3) being positioned so as to block the passage of the direct incoming beam (1) which is not incident on the diffractive element a device for translation of the beam block (3) and the diffractive element reflective element (4) fixed detector (5) positioned on the axis of the incoming beam (1). The invention also concerns use and a method thereof. Such a compact system provides application in the field of spectrometry and diagnostics of the beam intensity profile, especially in the area of XUV and soft X-rays.
Klasifikace
Druh
P - Patent
CEP obor
—
OECD FORD obor
10305 - Fluids and plasma physics (including surface physics)
Návaznosti výsledku
Projekt
<a href="/cs/project/EF15_008%2F0000162" target="_blank" >EF15_008/0000162: ELI - EXTREME LIGHT INFRASTRUCTURE - fáze 2</a><br>
Návaznosti
P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)
Ostatní
Rok uplatnění
2018
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Číslo patentu nebo vzoru
307169
Vydavatel
CZ001 -
Název vydavatele
Industrial Property Office
Místo vydání
Prague
Stát vydání
CZ - Česká republika
Datum přijetí
14. 2. 2018
Název vlastníka
Fyzikální ústav AV ČR v. v. i.
Způsob využití
B - Výsledek je využíván orgány státní nebo veřejné správy
Druh možnosti využití
A - K využití výsledku jiným subjektem je vždy nutné nabytí licence